Especificaciones; Especificaciones De Rendimiento - X-Rite Ci7 0 Serie Guía De Uso

E S P E C T R O F O T Ó M E T R O

Especificaciones

Especificaciones de rendimiento

Repetibilidad
Correlación entre
instrumentos
Geometría
Iluminación
Tiempo de
medición
Ciclo de trabajo
Rango espectral
Intervalo de
longitud de onda
Escala
fotométrica
Resolución
fotométrica
42
D E M E S A
Serie Ci7860
0.01 RMS ∆E
CIELAB en la placa
Spectralon
Promedio de 0.06
en 13 cerámicas
BCRA Serie II, SCI
(abertura de 25 mm
solamente)
D/8, haz triple,
SCE/SCI
simultáneos
Xenón pulsada, D65
calibrada
2,7 – 4,0 segundos
(flash y adquisición
de datos)
máx. de 480
mediciones por hora
360 nm - 750 nm en
informe estándar
con longitudes de
onda extendidas
(360 nm - 780 nm)
5 nm, 10 nm y 20
nm
0,0% a 200%
0,001% de
reflectancia
C i 7 X X 0
Serie Ci7800
0.01 RMS ∆E
CIELAB en la placa
Spectralon
Promedio de 0.08
en 13 cerámicas
BCRA Serie II, SCI
(abertura de 25
mm solamente)
D/8, haz triple,
SCE/SCI
simultáneos
Xenón pulsada,
D65 calibrada
2,7 – 4,0 segundos
(flash y adquisición
de datos)
máx. de 480
mediciones por
hora
360 nm - 750 nm
en informe
estándar con
longitudes de onda
extendidas (360
nm - 780 nm)
5 nm, 10 nm y 20
nm
0,0% a 200%
0,001% de
reflectancia
Serie Ci7600
0.03 RMS ∆E
CIELAB en la placa
Spectralon
Promedio de 0.15
en 13 cerámicas
BCRA Serie II, SCI
(abertura de 25
mm solamente)
D/8, haz triple,
SCE/SCI
simultáneos
Xenón pulsada, D65
calibrada
2,7 – 4,0 segundos
(flash y adquisición
de datos)
máx. de 480
mediciones por
hora
360 nm - 750 nm
en informe
estándar
10 nm y 20 nm
0,0% a 200%
0,01% de
reflectancia
Serie Ci7500
0.03 RMS ∆E
CIELAB en la placa
Spectralon
Promedio de 0.15
en 13 cerámicas
BCRA Serie II, SCI
(abertura de 25
mm solamente)
D/8, haz triple,
SCE/SCI
simultáneos
Xenón pulsada,
D65 calibrada
2,7 – 4,0 segundos
(flash y adquisición
de datos)
máx. de 480
mediciones por
hora
360 nm - 750 nm
en informe
estándar
10 nm y 20 nm
0,0% a 200%
0,01% de
reflectancia