WEG MVW3000 Manual De Programación página 215

Fallas/alarmas
F0528
Sobretemperatura en el módulo de
IGBT de la célula U6
F0529
Sensor de temperatura defectuoso
o subtemperatura en el IGBT de la
célula U6
F0530
IGBT de la fase de la célula U6
F0531
IGBT del neutro de la célula U6
F0533
Realimentación de pulsos de la
fase de la célula U6
F0535
Realimentación de pulsos del
neutro de la célula U6
F0536
Fuente de la electrónica de la
célula U6
F0541
Sincronismo en la modulación de
la célula U6
F0542
Sistema de bypass de la célula U6
F0543
Comunicación con la célula U6
Reset
Power-on.
O
Manual (tecla /RESET).
Autoreset.
DIx.
Redes.
Consultar la Asistencia Técnica WEG.
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SOLUCIÓN Y PREVENCIÓN DE FALLAS
Causas más probables
Temperatura en el disipador de la célula mayor a
90 °C.
Temperatura ambiente muy alta (>40 °C) y co-
rriente de salida elevada.
Ventiladores bloqueados o defectuosos.
Filtros de la entrada de aire obstruidos.
Defecto en el sensor de medición de temperatura
de la célula.
Sensor de temperatura de la célula desconecta-
do.
Temperatura en el disipador de la célula menor a
-10 °C.
Cortocircuito en la salida del convertidor.
Tarjeta de disparo de los IGBTs del brazo fase de
la célula desconectada.
IGBTs del brazo fase de la célula operando fuera
de la región de saturación.
IGBTs o tarjeta de disparo del brazo fase de la
célula con defecto.
Falla en la realimentación de la señal de desatu-
ración o fuente del gate driver.
Cortocircuito en la salida del convertidor.
Tarjeta de disparo de los IGBTs del brazo neutro
de la célula desconectada.
IGBTs del brazo neutro de la célula operando fue-
ra de la región de saturación.
IGBTs o tarjeta de disparo del brazo neutro de la
célula con defecto.
Falla en la realimentación de la señal de desatu-
ración o fuente del gate driver.
Falla en la confirmación de la conmutación de los
IGBTs del brazo fase de la célula.
Circuito de medición de la señal de confirmación
de la conmutación de los IGBTs del brazo fase
desconectado o defectuoso.
IGBTs o tarjeta de disparo del brazo fase de la
célula con defecto.
Falla en la confirmación de la conmutación de los
IGBTs del brazo neutro de la célula.
Circuito de medición de la señal de confirmación
de la conmutación de los IGBTs del brazo neutro
desconectado o defectuoso.
IGBTs o tarjeta de disparo del brazo neutro de la
célula con defecto.
Tensiones de los circuitos electrónicos internos
de la célula fuera del nivel de operación.
Defecto en la fuente de alimentación de la célula.
Falla en el sincronismo entre la tarjeta de control
MCC1 de la célula y el control principal MVC3.
Falla en la operación del sistema de bypass de la
célula.
Sistema de bypass no conectado o defectuoso.
Falla en la comunicación entre la tarjeta de con-
trol MCC1 de la célula y el control principal
MVC3.
Rompimiento o defecto en el cable de fibra óptica
de comunicación de la célula.
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