Chauvin Arnoux C.A 6545 Manual De Instrucciones página 24

„ Precisión
Tensión de prueba
R a n g o d e m e d i d a
especificado
Resolución
Precisión
Tensión de prueba
400...999 MΩ
Rango de medida
1,000...3,999
especificado
Resolución
Precisión
„ Precisión en modo variable
A interpolar entre los valores de la tabla anterior y según § 7.2.2.
„ Medida de la tensión CC durante la prueba de aislamiento
Rango de medida especificado
Resolución
Precisión
„ Medida de la tensión CC durante la fase de descarga de la prueba de aislamiento
Rango de medida especificado
Resolución
Precisión
„ Tiempo de establecimiento típico de la medida en función de los elementos probados (U
Estos valores incluyen las influencias debidas a la carga del componente capacitivo, al sistema de gama automática y a la
regulación de la tensión de prueba.
Tensión de prueba
500 V
1.000 V
2.500 V
5.000 V
„ Tiempo de descarga típica de un elemento capacitivo para alcanzar 25 Vcc
Tensión inicial
Tiempo de descarga (C en µF)
500 V - 1.000 V - 2.500 V - 5.000 V
10...999 kΩ
1,000...3,999 MΩ
1 kΩ
500 V - 1.000 V - 2.500 V - 5.000 V
4,00...39,99
GΩ
GΩ
1 MΩ 10 MΩ
±5% + 3 ct
40,0...99,9 V
0,1 V
25...5.100 V
5% + 3 ct
Carga
1 MΩ
100 GΩ
1 MΩ
100 GΩ
3 MΩ
100 GΩ
5 MΩ
100 GΩ
500 V 1.000 V
C x 3 s C x 4 s
4,00...39,99 MΩ
10 kΩ
±5% + 3 ct
400...999 GΩ
40,0...399,9
1,000...1,999
GΩ
100 MΩ
100...1.500 V
1 V
1% + 1 ct
0,2% Un
No capacitivo
(medida sin filtrado)
3 s
8 s
3 s
8 s
3 s
8 s
4 s
8 s
2.500 V
C x 4 s
24
40,0...399,9 MΩ
100 kΩ
1.000 V - 2.500 V
5.000 V
2,000...
3,999 TΩ
TΩ
1 GΩ
±15% + 10 ct
1.501...5.100 V
2 V
= 0,03 U
dist
Con capacidad de 1 µF
(medida filtrada)
4s
40 s
4 s
80 s
4 s
90 s
16 s
120 s
5.000 V
C x 7 s
2.500 V
5.000 V
4,00...
9,99 TΩ
10 GΩ
)
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