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Leuze electronic MSI 400 Instrucciones De Uso Originales página 30

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Idiomas disponibles
  • MX

Idiomas disponibles

Datos técnicos
6.1
Datos técnicos MSI 4xx
Nivel de integridad de seguridad SIL3 (IEC 61508)
Límites de reclamación SIL
Categoría
Nivel de rendimiento
(Performance Level - PL)
PFHd (Probabilidad media de un
fallo peligroso por hora)
D
(vida útil)
M
Clase de protección
Grado de protección
Temperatura ambiente durante
el servicio
Temperatura de almacenamiento –25 ... +70 °C
Humedad del aire
Resistencia a vibraciones
Resistencia a choques
Choque continuo
Choque único
Compatibilidad electromagnética Clase A (EN 6100062,
Interfaz de datos
Interfaz de comunicación 1
Interfaz de comunicación 2
Dimensiones (an × al × pr)
Bornes roscados
Bornes a resorte
Peso
Datos relativos a los bornes y a la conexión
Conexión mediante tornillo
Unifilar o de hilo fino
De hilo fino con virola de cable
Par de apriete máx.
Conexión mediante fuerza elástica
Unifilar o de hilo fino
De hilo fino con virola de cable
Tamaño de cable AWG (utilizar
solamente cables de cobre)
Longitud de pelado del cable
Alimentación para el sistema (A1, A2)
Tensión de alimentación
Tipo de tensión de alimentación MBTP o MBTS
Consumo de potencia
Atención: El consumo de
potencia aumenta con cada
módulo que se conecte al
sistema.
Tiempo de conexión
Dispositivo de protección contra
cortocircuitos
Alimentación de los grupos de salida B1 y B2
(B2: solo MSI 420 / MSI 430)
Tensión de alimentación
Tipo de tensión de alimentación MBTP o MBTS
Consumo de potencia
Leuze electronic GmbH + Co. KG
info@leuze.de • www.leuze.com
SILCL3 (EN 62061)
Categoría 4 (EN ISO 13849-1)
PL e (EN ISO 13849-1)
MSI 400 Hardware
véase
,
cap. Valores característicos
técnicos de seguridad
20 años (EN ISO 13849)
III (EN 61140)
IP 20 (EN 60529)
–25 ... +65 °C
10...95 %, sin condensación
5 Hz ... 150 Hz (EN 6006826)
10 g, 16 ms (EN 60068-2-29)
30 g, 11 ms (EN 60068-2-27)
EN 55011)
Bus de seguridad interno
USB mini
RJ45 (solo MSI 420 / MSI 430)
45 × 96,5 × 121 mm
45 × 107 × 121 mm
290 g (± 5%)
1 × 0,2–2,5 mm
2
2 × 0,2–1,0 mm
2
1 × 0,25–2,5 mm² o
2 × 0,25–1,0 mm²
0,5...0,6 Nm (5 - 7 lbf-in)
2 × de 1 × 0,2 mm² a 1,5 mm²
2 × de 1 × 0,25 mm² a 1,5 mm²
26 - 14 (conexión mediante
tornillo) 24 - 16 (conexión
mediante fuerza elástica)
7 mm
24 V CC (16,8 ... 30 V CC)
La corriente de la fuente de
alimentación debe limitarse a 4
A como máximo, a través de la
propia fuente de alimentación
o mediante un fusible
Máx. 3,3 W
Máx. 18 s
4 A gG
24 V CC (16,8 ... 30 V CC)
La corriente de la fuente de
alimentación debe limitarse de
forma externa a 8 A como
máximo por grupo de salida
(B1 y B2), a través de la propia
fuente de alimentación o
mediante un fusible.
2 × 0,3 W
In der Braike 1 D-73277 Owen
Tel. +49 (0) 7021 573-0
Dispositivo de protección contra
cortocircuitos
Circuito de entrada: MSI 410: I1 ... I20
MSI 420 / MSI 430: I1 - I16, IQ1 - IQ4
Número de entradas
MSI 410:
MSI 420 / MSI 430:
Tensión de entrada HIGH
Tensión de entrada LOW
Corriente de entrada HIGH Típ. 2,3 mA / Máx. 6 mA
Corriente de entrada LOW
Capacidad de entrada
Entrada de corriente
invertida al interrumpir la
medición
Salidas de prueba (T1 - T4)
Número de salidas
Tipo de salida
Tensión de salida HIGH
Corriente de salida LOW
Corriente de salida HIGH
Frecuencia de impulsos de
prueba (periodo de prueba)
Duración de impulso de
prueba (intervalos de
prueba)
Capacidad de carga
Resistencia de línea
Salidas de seguridad: MSI 410: I1 – I20
MSI 420 / MSI 430: I1 – I16, IQ1 - IQ4
Número de salidas
MSI 410:
MSI 420 / MSI 430:
Tipo de salida
Tensión de salida HIGH
Corriente de salida HIGH
Corriente de sobrecarga
máx. / duración
Intensidad residual Isum
TU ≤ 45 °C
TU ≤ 55 °C
TU ≤ 65 °C
Prueba de salidas,
desactivable
Duración del impulso de
prueba
Frecuencia del impulso de
prueba
Corriente de fuga LOW
Capacidad de carga
Resistencia de línea
Energía máx. de bobina
admisible sin elementos de
protección externos
Tiempo de reacción
Nota
La homologación se ha efectuado de conformidad con los
requisitos para aplicaciones generales de la UL508.
We reserve the right to make changes
8 A gG
20
20 (16 entradas fijas y
4 seleccionables)
13 ... 30 V CC
–5 ... +5 V CC
< 2 mA
10 nF
< 0,1 mAE
4 (con 4 generadores de señal de
prueba independientes)
Semiconductor, push-pull, a prueba
de cortocircuitos
U
- 1,2 V
A1
-10 mA (limitado)
Salida individual: máx. 120 mA
Suma de todas las salidas de
prueba: máx. 120 mA
1 ... 25 Hz, configurable
1 ... 100 ms, configurable
1 µF para intervalo de prueba ≥
4 ms
0,22 µF para intervalo de prueba
1 ms
< 100 Ω
4
8 (4 salidas fijas y 4 seleccionables)
High-Side-MOSFET, a prueba de
cortocircuitos y con supervisión de
corriente
U
≥ U
- 0,6 V
Qn
Bx
≤ 4,0 A
≤ 12 A / 8 ms
Por cada par de salidas
(Q1/2, Q3/4, IQ1/2, IQ3/4)
≤ 4,0 A
≤ 2,5 A
≤ 1,6 A
≤ 450 µs
10 Hz
< 0,1 mA
0,5 µF
< 200 Ω
< 0,125 J
Depende de la lógica configurada
10/2016 – 50134613 - 30/30

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