• Quando a cabeça esférica se encontra dentro de uma armação
(por exemplo, caixilho da janela), o valor de medição baixa
mais, uma vez que há mais substância no campo de dispersão
da cabeça de medição. É necessário manter uma distância
superior a 8 a 10 cm em relação aos lados.
• Durante a medição manter sempre a cabeça esférica na
perpendicular ao material de medição, apertar bem contra
a superfície de medição e não inclinar.
• As superfícies rugosas irão indicar sempre um valor de
medição muito baixo.
• A profundidade de acção do aparelho situa-se entre 20 e 40 mm,
conforme a densidade aparente do material de medição. Não é
possível obter dados sobre zonas muito profundas.
B - 08
• No caso de materiais de espessura inferior a 2 cm, há o perigo
de os valores de humidade das camadas de material adjacentes
influenciarem também o valor de medição.
• Aquando da realização de medições comparativas nos
mesmos componentes, a primeira medição deverá ser feita
num ponto aparentemente seco, indo este valor constituir
o valor de referência seco.
O campo principal de aplicação do processo de medição dieléctrico
é o de efectuar medições comparativas no mesmo material ou nos
mesmos componentes.
O principal campo de aplicação do método de medição
capacitivo é a medição comparativa no mesmo material de
construção ou nos mesmos componentes.
Manual de instruções – Português