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FTIR FlexScan serie 4200 de Agilent Manual de operación
Sistema de reflectancia externa FTIR FlexScan serie 4200
de Agilent: para el análisis químico de muestras de superficie
sólidas o duras, especialmente para medición de espesores de
capas delgadas y películas sobre superficies reflectantes. Las
aplicaciones típicas incluyen la medición de espesores, el análisis
de anodización de los metales y la medición de la limpieza de
la superficie. El Sistema de reflectancia externa utiliza una
sonda de reflectancia especular de 45 grados o una sonda de
reflectancia especular de ángulo rasante. La sonda de 45 grados
es óptima para el análisis de películas delgadas de más de
1 micrón de espesor. La reflectancia especular es un método
ideal para el análisis de la contaminación de la superficie.
Sistema de ángulo rasante FTIR FlexScan serie 4200 de
Agilent: la interfaz de muestreo el ángulo rasante funciona de
manera similar a la interfaz de muestreo de reflectancia externa,
sin embargo, el ángulo de incidencia es de 82 grados. El aumento
del ángulo de incidencia se incrementa. La sonda de ángulo
rasante es óptima para el análisis de películas súper delgadas
inferiores a 1 micrón de espesor. La sonda de ángulo rasante
se debe utilizar al analizar un nivel de contaminación muy bajo
(niveles de espesor nanómetros).
Sistema de reflectancia interna FTIR FlexScan serie 4200
de Agilent: para el análisis químico de líquidos, polvos, pastas
y geles. El Sistema de reflectancia interna utiliza una sonda
de muestreo óptica de diamante que incorpora la técnica de
reflectancia total atenuada (ATR). Este método es óptimo para la
identificación de una variedad de muestras y tiene la ventaja de
que no se requiere la preparación de muestras para obtener los
niveles adecuados de absorbancia IR. La sonda ATR de diamante
para el FTIR FlexScan serie 4200 es un accesorio ATR de
reflexión única. La técnica de muestreo ATR de reflexión única
es ideal para identificar las muestras gruesas o muy absorbentes,
donde se necesitan pequeñas longitudes de trayectoria de IR
(generalmente una profundidad de penetración de 2 micrones).
Presentación
7
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