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PROCEDIMIENTO DE OBSERVACIÓN DETALLADO
1
Encendido de la Lámpara
Fig. 17
2
Colocación de la muestra en la platina
Fig. 18
3
Ajuste del Enfoque
Fig. 19
1. Colocar el interruptor principal en "I" (ENCENDIDO) como se muestra en la figura
17.
2. Al girar la perilla de ajuste de intensidad de la luz en el sentido de la flecha,
aumenta la luminosidad y al girarla en la dirección opuesta disminuye la
luminosidad. La barra de intensidad que está junto a la perilla indica la dirección
del nivel de intensidad.
Colocar la muestra en la placa de la platina. Si la muestra está en una caja de Petri,
colocarla en el sujetador para cajas de Petri.
En caso de estar utilizando un matraz alto, quitar la lente frontal del condensador
girándola hacia la izquierda para que quepa en el matraz; como se muestra en la fig.
18.
En caso de que el microscopio tenga una plataforma mecánica montada y se esté
utilizando un portaobjetos de vidrio o una placa de 90 pocillos, usar los soportes
adecuados.
Procedimiento de enfoque (Figura 19)
1. Girar el tornillo macrométrico (1) en el sentido de las agujas del reloj para que el
objetivo (3) esté lo más cerca posible de la muestra (se recomienda comenzar con
10X).
2. Mientras se hace la observación de la muestra a través de los oculares, girar
lentamente el tornillo macrométrico (1) en sentido contrario a las agujas del reloj
para bajar los objetivos.
3. Cuando se obtiene el enfoque macrométrico de la muestra (se observa una
imagen), girar el tornillo micrométrico (2) para obtener un enfoque de detallado.
Distancia de trabajo (WD)
La distancia de trabajo (WD, por sus siglas en inglés) se refiere a la distancia que hay
entre cada objetivo y la muestra una vez que se obtiene el enfoque agudo de la
muestra.
Aumento del
4X
objetivo
WD (mm)
16
10X
20X
40X
7.2
5.35
2.0
TCM 400
18
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