Fuente De Alta Tensión De Cp Td1; Procedimiento De Prueba Típico - Omicron CPC 100 Manual Del Usuario

CP TD1
Fuente de alta tensión de CP TD1
Además de la prueba factor de disipación (TanDelta)/factor de potencia, CP TD1 también se
puede utilizar como fuente de alta tensión para medir, por ejemplo, la descarga parcial o llevar
a cabo pruebas de alta tensión en máquinas rotativas.
Para compensar las corrientes capacitivas, es posible configurar un circuito de resonancia
paralelo.
La compensación a través del reactor de compensación CP CR500 se efectúa de dos modos
diferentes: En primer lugar, creando un circuito paralelo de los reactores de compensación para
medir con la máxima precisión la frecuencia de resonancia cuando es necesaria una medición
de frecuencia nominal. En segundo lugar, configurando que la frecuencia se mida exactamente
en la frecuencia de resonancia. La máxima duración de salida se consigue con la prueba de la
frecuencia de resonancia; la mayoría de veces, se consigue combinando ambos
procedimientos.
La tarjeta de prueba Fuente de alta tensión de CP TD1 puede utilizarse para la prueba manual
o totalmente automática conmutando las secuencias y rampas definidas. La tarjeta de prueba
también resulta de ayuda para establecer la configuración de prueba óptima y alcanzar la
máxima duración posible de la prueba.
Procedimiento de prueba típico
• Sin compensación
Si la capacitancia del equipo en prueba es menor que 80 nF (hasta 12 kV y t en > 2 min), no es
necesaria ninguna compensación.
• Con compensación
1. Determine la capacitancia del equipo en prueba
2. Calcule los inductores necesarios para el cálculo manual de
– la compensación
– a través de la tarjeta de prueba Fuente de alta tensión de CP TD1
3. Ajuste la tensión de prueba
4. Configure la prueba f (manualmente o con Buscar f0...)
5. Inicie la prueba (defina previamente el ciclo de prueba, si es necesario)
CP TD1 - 7
Definir ciclo de prueba automática Ajustar la tensión máxima
Activar búsqueda de
Ajustar
frecuencia de resonancia
tensión de
prueba
Ajustar la
frecuencia de
prueba
Activar
configuración de
prueba a través
de CP CR500
Establecer o
mostrar
capacitancia de la
prueba
Seleccionar o
mostrar
Tensión de Pérdidas en vatios de la configuración de prueba
inductancia de
salida medida (inductores y equipo en prueba)
compensación
Mostrar el número de Ángulo de fase entre la tensión de
secuencia (sólo en modo salida y la corriente de salida
automático)
Corriente de salida de CP TD1
Ajustes de la prueba
Mostrar mínima inductancia posible
con la unidad CP CR500 disponible
Mostrar configuración de cableado
(configuración de prueba)
Establecer la
unidad
Activar prueba
CP CR500
para determinar la
disponible
capacitancia de la
prueba
Mostrar
inductancia
calculada para la
frecuencia de
Tiempo de la resonancia con
prueba El tiempo prueba f y
de la prueba capacitancia
comienza de ajustada en la
nuevo a partir de página principal
cero si se pulsa
Mantener
Seleccionar o
resultado.
mostrar
combinaciones
posibles de
inductancia de
compensación
con la unidad
CP CR500
disponible
Mostrar máxima inductancia
posible con la unidad
CP CR500 disponible
Ajustar la
frecuencia de
prueba
Información de la
prueba
Muestra la
frecuencia de
resonancia con la
opción Comp. L
seleccionada y la
capacitancia
Mostrar configuración para el valor
ajustada en la
seleccionado de Comp. L página principal