Descargar Imprimir esta página

Principios De Medición; Efectos Térmicos - Extech 380580 Manual De Usuario

Publicidad

Principios de medición
La corriente de prueba fluye a través de la resistencia de la terminal Corriente+ (C+) a la terminal Corriente-
(C-). Las terminales P+ y P- (POTENCIAL) miden la caída de voltaje a través del dispositivo bajo prueba
solamente, de tal manera eliminando las resistencias de los cables y contactos. El medidor indica la
resistencia basándose en la corriente de prueba y el voltaje medido; consulte la siguiente ecuación:
Efectos térmicos
La temperatura puede tener un efecto significativo sobre el rendimiento del miliohmímetro debido al
coeficiente de temperatura de la resistencia bajo prueba y los campos térmicos electromagnéticos entre
conductores distintos.
La mayoría de los conductores tienen un gran coeficiente de temperatura de resistencia
Por ejemplo: 0.4%/°C para cobre. Un conductor de cobre que tiene una resistencia de 10.00m ohmios a 20°C
aumentará a 10.40m ohmios a 30°c. Esto deberá tomarse en cuenta.
La corriente que pasa a través de una resistencia también aumenta la temperatura así que la duración de la
prueba también puede cambiar la resistencia.
¿Cuánto tiempo pueden durar los cables de prueba en el medidor de mili-ohm 380580?
La resistencia de bucle total en los cables de corriente (C1 y C2), que se compone de los cables de prueba de
corriente más el resistor bajo prueba, no puede exceder el rango máximo de resistencia.
Ejemplo: si el medidor está configurado en el rango de 200 ohmios, la resistencia de bucle total, los cables de
prueba más la resistencia bajo prueba, no pueden exceder los 200 ohmios.
La longitud de los cables no afecta la precisión ya que se trata de una medición de 4 hilos.
El medidor no necesita ser puesto a cero.
Cuanto más largos sean los cables, mayor será la resistencia en el bucle. La resistencia del cable de prueba se
puede controlar ajustando la longitud o el calibre del cable.
P+
Voltios
P-
RX = Vx / Is
Donde:
Vx es la caída de voltaje a través del dispositivo bajo prueba;
Is es la corriente de prueba;
Rx es la resistencia del dispositivo bajo prueba.
C+
Corriente
C-
5
380580-es-ES_v2.7 10/22

Publicidad

loading