Leica SL2-S Instrucciones página 215

MATRICIAL
Varios campos de medición se registran de forma totalmente auto-
mática.
PUNTUAL/CAMPO
Estos dos métodos de medición registran únicamente las partes del
motivo situadas dentro de los correspondientes campos de medi-
ción AF. Los campos de medición se distinguen por un pequeño re-
cuadro (medición de campo) o una cruz (medición puntual). Gracias
al intervalo de medición especialmente reducido de la medición pun-
tual es posible concentrarla en detalles muy pequeños del motivo.
Para ello, el campo de medición AF se puede mover a otra posición.
El rango de medición ligeramente mayor de la medición de campo es
menos crítico al apuntar, pero permite una medición selectiva.
▸ Mueva el joystick en la dirección deseada
o bien
▸ Toque el monitor en la ubicación deseada
(con el AF táctil activado)
Notas
• En ambos casos, los campos de medición permanecen en las
últimas posiciones determinadas incluso al cambiar de método de
medición o apagar la cámara.
• Cuando se combina el método de medición de la exposición
con los métodos de medición AF
Puntual
se acoplan los campos de medición. En este caso, la medición
de la exposición se realiza en el punto indicado en el campo de
medición AF, aunque este se desplace.
ZONA
En este método de medición se captan secciones del motivo con un
grupo de 5 x 5 campos contiguos.
Tras haber realizado lo ajustes correctamente, se mostrarán los
campos de medición en los cuales se representarán con nitidez
partes del motivo.
, y
Puntual Campo Zona
GRABAR ▸ AJUSTE DE DISTANCIA (ENFOQUE)
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