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2. Destellos
3. Restricciones
cuando se
combinan
productos
individuales
3.2Especificaciones sujetas a restricciones dependiendo de las condiciones de uso.
3.2.1Cámaras en general
1. Dado que el mecanismo de desplazamiento de píxel es sensible a los impactos, evite colisionarlo al
montarlo o desmontarlo del microscopio. No olvide utilizar la caja de embalaje respectiva al transportar
este producto.
2. Es necesario realizar una calibración periódicamente (aprox. cada tres meses) para los defectos de píxel de
aparición tardía provocados por los rayos cósmicos. (Operación con cellSens/PRECiV/DP2-TWAIN)
3. No utilice imágenes en directo, imágenes capturadas o imágenes analíticas usando estas imágenes para
fines de diagnóstico.
4. El procesamiento de desplazamiento de píxel de 8192 x 6000, 4096 x 3000 píxeles (modo 3CMOS) mediante
una entrada de disparador externo no está disponible.
3.2.2Imágenes de cámara
1. Las alteraciones de imágenes como un patrón de sombreado aparecerán cuando la muestra se mueva
durante el procesamiento de imágenes de desplazamiento de píxel con 8192 x 6000, 4096 x 3000 píxeles
(modo 3CMOS).
2. Las alteraciones de imágenes como un patrón de sombreado aparecerán si existen vibraciones de la
cámara o el microscopio durante el procesamiento de imágenes de desplazamiento de píxel con 8192 x
6000, 4096 x 3000 píxeles (modo 3CMOS).
Algunos de los factores que provocan vibraciones serían la utilización de un teclado/ratón o equipos con
un ventilador de refrigeración por aire incorporado en el escritorio donde se coloca el microscopio con la
cámara.
3. Cuando se activa la función de reducción de ruido en directo, pueden aparecer imágenes retardadas o
zonas oscuras al mover la muestra (platina).
4. Si utiliza la función HDR en directo, aparecerán imágenes retardadas al mover la platina.
5. Con una imagen fija HDR, el procesamiento de imágenes de desplazamiento de píxel de 8192 x 6000, 4096
x 3000 píxeles (modo 3CMOS) no está disponible.
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3.Restricciones
1. Si hay una zona de alta luminosidad en la pantalla que satura la gradación,
pueden aparecer destellos en la zona de baja luminosidad. Suele advertirse más
cuando el AS (tope de apertura) se estrecha a cerca del valor mínimo, y será
menos perceptible cuando el AS (tope de apertura) se abre. Además, se advertirá
menos si la cantidad de exposición se elimina hasta el margen en que la
gradación no se sature.
2. Al observar una muestra con una fluorescencia débil con el filtro de corte IR
retirado (o sin una muestra), los destellos pueden ser visibles dependiendo de
las características de la unidad de espejo si se combinan fuentes de luz que
utilizan una lámpara de mercurio.
1. Pueden aparecer destellos si se introduce un filtro con alta reflectancia (45LBD-
IF, etc.) en el portafiltros del microscopio.
Será menos perceptible si se introduce un filtro ND para transiluminación o un
filtro ND de tipo baja reflexión (45-ND25, etc.) en el lado del condensador del
filtro de alta reflectancia.
3.2Especificaciones sujetas a restricciones
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