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4.5
Medición de resistencias muy bajas
Al medir valores de resistencia muy bajos en el rango de µΩ, la
presencia de corrientes CC parásitas podrían afectar la precisión de las
mediciones. Estas corrientes pueden presentarse por una variedad de
razones incluyendo FEM química o térmica en muestras constituidas de
metales distintos.
Estos efectos se pueden eliminar invirtiendo la dirección del flujo de la
corriente (como muestra el ejemplo a continuación) y utilizando el
promedio de las lecturas con corriente inversa y no inversa.
La presencia de la interferencia CA en la muestra sometida bajo prueba
puede causar que los valores medidos mostrados en la pantalla fluctúen.
Es posible que esta interferencia se vuelva más notoria ante la presencia
de campos eléctricos fuertes. Los efectos de esta interferencia se
pueden reducir trenzando los cables de prueba entre sí.
1. Invierta la dirección de la corriente presionando el botón ±I y el
instrumento mostrará el promedio:
2. Para mostrar los valores R(+I) y R(-I), presione el botón DISPLAY.
_
I
HOLD
19
= R(+I) + R(-I)
R
AVG
2
A
µ Ω
Presione el botón DISPLAY para desplazarse entre los valores
+I
+V
R(+I)
R(+I)
Micróhmetro Modelo 6240
-V
-I
R(-I)
R(-I)
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