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Manual de referencia técnica
A menos que se repongan los bloqueos, los bloques funcionales que se bloquean
siguen estando bloqueados la próxima vez que se entra en el modo de prueba.
El bloqueo de un bloque funcional afecta todas las señales de salida del bloque en
cuestión, de manera que no se activa ninguna salida.
Cuando se utiliza una entrada binaria para poner el IED en modo de
prueba y se modifica algún parámetro que requiere que la
aplicación se reinicie, el IED vuelve a entrar en modo de prueba y
todos los bloques funcionales se bloquean, incluso los que no
estaban bloqueados antes de la modificación. Mientras se vuelve a
entrar en el modo de prueba, todos los bloques se desbloquean
temporalmente por un período breve, lo cual puede causar
funcionamientos no deseados. Todo esto es válido solo si se pone el
IED en modo de prueba desde una entrada binaria, y no desde la
HMI local.
El bloque funcional TESTMODE se puede utilizar para bloquear bloques
funcionales de manera automática, cada vez que se ingresa una maneta de prueba
en un dispositivo de prueba. Un contacto en el dispositivo de prueba (contacto
RTXP24 29-30) puede proporcionar una entrada binaria que a su vez se configura
para el bloque funcional TESTMODE.
Todas las funciones de protección incluyen el bloqueo del bloque funcional
TESTMODE. Un ejemplo típico de la función de baja tensión se observa en la
figura 35.
Los bloques funcionales también se pueden bloquear para evitar que envíen
eventos por el bus de subestaciones IEC 61850 y llenen las bases de datos de las
subestaciones y SCADA con eventos de pruebas, por ejemplo durante una prueba
de mantenimiento.
Funciones básicas del IED
Sección 4
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