Tabla de contenido
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M
Key:
English
Megger's Logical Approach
Fault Diagnosis
Continuity Insulation Resistance Proof Test
Low Resistance Fault
Yes
Rf = 0-300 Ω (approx.)
Fault Diagnosis
Rf = > 300 Ω (approx.)
High Resistance Fault
Low Voltage Pre-location
Pulse Echo Method (TDR)
High Voltage Pre-location
Arc Reflection Method
Impulse Current Method (ICE)
Voltage Decay Method
Burn
Proof/Burn
Fault Pre-located
Pinpoint Fault Location
Fault Pinpointed
Fault Restoration
AVTMPFL22M-ES Rev 2 Abril 2012
Espa ol
Enfoque lógico de Megger
Diagnóstico de la falla
Prueba de continuidad y resistencia de aislamiento
Falla de baja resistencia
Sí
Rf = 0-300 Ω (aprox.)
Diagnóstico de la falla
Rf = > 300 Ω (aprox.)
Falla de alta resistencia
Prelocalización de bajo voltaje
Método de eco de pulso (TDR)
Prelocalización de alto voltaje
Método de Reflexión en arco
Método de Corriente de impulso (ICE)
Método de Decaimiento de voltaje
Quemado
Prueba/Quemado
Falla prelocalizada
Localización precisa de fallas
Falla localizada con precisión
Reparación de falla
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