Historia Temporal De Las Comprobaciones De Las Ossd - SICK microScan3 Core I/O Instrucciones De Uso

13
DATOS TÉCNICOS
13.5

Historia temporal de las comprobaciones de las OSSD

160 I N S T R U C C I O N E S D E U S O | microScan3 Core I/O
Tabla 32: Tiempo de respuesta de un escáner láser de seguridad concreto
Tiempo del ciclo de Protección contra
exploración (t ) influencias (t
S
30 ms Modo 1
Modo 2
Modo 3
Modo 4
40 ms Modo 1
Modo 2
Modo 3
Modo 4
50 ms Modo 1
El escáner láser de seguridad comprueba las OSSD a intervalos periódicos. Para
hacerlo, el escáner láser de seguridad pone brevemente (durante un máx. de 300 μs)
cada OSSD en estado OFF y comprueba si este canal permanece sin tensión durante
ese tiempo.
Asegúrese de que el control de la máquina no reacciona a esos impulsos de la prueba
y la máquina no se desconecta.
t t t
S S S
V
OSSD 1.A
V
OSSD 1.B
Figura 88: Pruebas de desconexión
t Tiempo de ciclo de exploración
S
• Ajuste "30 ms": t
• Ajuste "40 ms": t
• Ajuste "50 ms": t
≤ 300 µs
V
OSSD 1.A
V
OSSD 1.B
Figura 89: Duración y desfase temporal de las pruebas de desconexión en una pareja de OSSD
Salida (t
O
)
I
0 ms Pareja de OSSD 1
1 ms Pareja de OSSD 1
2 ms Pareja de OSSD 1
3 ms Pareja de OSSD 1
0 ms Pareja de OSSD 1
1 ms Pareja de OSSD 1
2 ms Pareja de OSSD 1
3 ms Pareja de OSSD 1
0 ms Pareja de OSSD 1
t t t
S S S
= 30 ms
S
= 40 ms
S
= 50 ms
S
4 × t
S
) t = Tiempo de res‐
R
puesta con evaluación
múltiple n
n × 30 ms + 10 ms
n × 31 ms + 10 ms
n × 32 ms + 10 ms
n × 33 ms + 10 ms
n × 40 ms + 10 ms
n × 41 ms + 10 ms
n × 42 ms + 10 ms
n × 43 ms + 10 ms
n × 50 ms + 10 ms
t t t
S S S
≤ 300 µs
8016349/15ZS/2019-11-14 | SICK
Sujeto a cambio sin previo aviso
t
t
t
t