B.2 Parámetros Del Tiempo De Respuesta Para Las Entradas Digitales Del F-Di 4/F-Dq 2; Parámetros Del Tiempo De Respuesta Para Las Entradas Digitales - Siemens SIMATIC ET 200AL F-DI 4+F-DQ 2x24VDC/2A Manual De Producto

Módulo de entradas/salidas digitales
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Tiempos de respuesta
B.2 Parámetros del tiempo de respuesta para las entradas digitales del F-DI 4/F-DQ 2
B.2
Parámetros del tiempo de respuesta para las entradas digitales
del F-DI 4/F-DQ 2
Tiempo de respuesta máximo para confirmación del dispositivo de las entradas digitales del
módulo de seguridad F-DI 4/F-DQ 2
Evaluación 1oo1:
T
WCDT_i
T
OFDT_i
1oo2 evaluation (evaluación 1oo2):
T
WCDT_i
T
OFDT_i
Siendo:
T
Tiempo de ciclo interno del módulo de seguridad
cycle
T
Tiempo de discrepancia:
dis
"Discrepancy time" (tiempo de discrepancia) configurado para canales 1oo2 que cambian de "0" a "1"
"Discrepancy time" (tiempo de discrepancia) configurado para canales 1oo2 que cambian de "1" a "0" y
opción "Supply last valid value" (proporcionar último valor válido) configurada para un comportamiento
de discrepancia
"0" para canales 1oo2 que cambian de "1" a "0" y opción "Supply value 0" (proporcionar valor 0) confi-
gurada para un comportamiento de discrepancia
El tiempo de discrepancia previsto entre las entradas del sensor debe incluirse en el retardo de los sen-
sores externos. El T
módulo de seguridad pasiven el canal por una prolongación del tiempo de discrepancia en caso de fa-
llo.
Este parámetro puede listarse por separado en el RT_calculator. No debe incluirse T
T
OFDT_i
T
Tiempo configurado de los "Input filters" (filtros de entrada) para el canal
filter
T
Tiempo de retardo de un fallo: tiempo de respuesta máximo para que la entrada digital del módulo de
OFDT_i
seguridad notifique un canal como pasivado.
T
Retardo para la duración del fallo por cortocircuito:
scf
"Interval for short-circuit test" (intervalo para prueba de cortocircuito) configurado cuando funciona en
modo de operación con alta demanda y depende de la prueba de cortocircuito para alcanzar el nivel
necesario de integridad de seguridad
"0" cuando no se depende de la prueba de cortocircuito para alcanzar el nivel necesario de integridad
de seguridad
90
= T
+ T
+ 2 x T
filter
sct
cycle
= T
+ T
WCDT_i
scf
= T
+ T
+ 2 x T
filter
sct
cycle
= T
+ MAX (T
T
WCDT_i
scf,
dis
configurado contribuye a T
dis
que se introduce en el RT_calculator si se introduce T
Módulo de entradas/salidas digitales F-DI 4+F-DQ 2x24VDC/2A, 4xM12 (6ES7146-5FF00-0BA0)
)
como retardo para que las entradas digitales del
OFDT_i
Manual de producto, V1.0, 05/2021, A5E51082349-AA
dis
como posición separada.
dis
en el valor de

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