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Capítulo 4
Secuencias de Pruebas Automatizadas
Hay varias secuencias de pruebas automatizadas disponibles en el analizador
FP35. Una secuencia de su preferencia es incluida como un dispositivo estándar
cuando ordena el FP35. Las otras secuencias de pruebas pueden ser añadidas
como dispositivos opcionales.
Las secuencias de pruebas automatizadas disponibles incluyen: ANSI 96*, IEC*,
JIS*, y ISI*. La secuencia de prueba ACIC se incluye cuando se ordena la Opción
CIC; esta es una versión de la secuencia de prueba ANSI 96* con factores de
corrección para software CIC* añadidos.
4 . 1 Pruebas con el estándar IEC*
El estándar IEC 118-7 fue diseñado por la Comisión Electrotécnica Internacional
(International Electrotechnical Commission) para probar los audífonos. La parte
del funcionamiento de este estándar puede ser incluido en forma de secuencia
automatizada en su FP35.
Para entrar en la pantalla de pruebas IEC, verifique los nombres encima de las teclas
de función [F4] y [F5]. Si uno de ellos dice "IEC", presiónelo para entrar a la pantalla
de prueba IEC. De otra forma, presióne y sujete el [F4] o [F5] hasta que el menú de
teclas de función englobadas aparezca. Use las teclas de flecha para seleccionar IEC
y presione [START/STOP] para ir a la pantalla de prueba IEC.
4 . 1 . 1 Examinado el Display del IEC (IEC Display)
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Figura 4.1.1A—Resultados de pruebas IEC, Pantalla Frequency Response (Respuesta por Frecuencia).
Nota: Las palabras seguidas por un asterisco * aparecerán en el glosario al
final del manual.
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