Mensajes De Diagnóstico De; Tabla 29: Diagnóstico De - Honeywell ST700 Serie Manual De Usuario

9.3 Mensajes de diagnóstico DE
En la Tabla 29 se enumera y describe el diagnóstico DE.
Tipo de diagnóstico
Critical
(Diagn Crítico)
(continuación)
Revisión 1.0 Manual de usuario de opciones HART/DE de la serie ST 700
Tabla 29: Diagnóstico DE
Diagnóstico
NVM fault
(Fallo de NVM)
RAM fault
(Fallo de RAM)
MDU/DAC
compensation fault
(Fallo de compensación
MDU/DAC)
Suspect input
(Entrada sospechosa)
Información/resolución
Causas posibles:
El NVM de la placa del sensor está dañado.
El NVM del módulo electrónico está dañado.
Resolución:
Restablezca el dispositivo. Si el problema
persiste, sustituya el cuerpo de medida.
Causas posibles:
La RAM de la placa del sensor está dañada.
La base de datos RAM de la placa del sensor
está en peligro.
Resolución:
Restablezca el dispositivo. Si el problema
persiste, sustituya el cuerpo de medida.
Causas posibles:
Uno de estos problemas es el causante de este
estado:

DAC SPI fault (Fallo de SPI DAC)

DAC SPI fault (Fallo de PEC DAC)

DAC Temperature above 140°C
(Temperatura DAC superior a 140 °C)

DAC VLOOP (loop voltage)low
(VLOOP DAC [tensión de lazo] baja)

DAC control word write fault (Fallo de
escritura de la palabra de control DAC)
Resolución:
Compruebe que la temperatura del entorno
cumpla con las especificaciones. Realice los
pasos para aislar el cuerpo de medida del foco
de temperatura.
Si el problema persiste, sustituya el módulo
electrónico.
Causas posibles:
La entrada de la presión estática, de la
temperatura del cuerpo de medida o de la
presión están muy alejadas del rango, por
lo que el valor es sospechoso.
Resolución:
Compruebe que todas las entradas cumplan
las especificaciones. Restablezca el dispositivo.
Si el problema persiste, sustituya el cuerpo de
medida.
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