12. Resolución de problemas
Consulte la información en la siguiente tabla para resolver cualquier problema operacional.
PROBLEMA
I. Sección Óptica:
El microscopio está encendido, pero el
campo de visión es oscuro.
La suciedad y el polvo se observan en
el campo de visión.
La imagen aparece dividida
Baja calidad de imagen.
•
La imagen no es buena.
•
Bajo contraste.
•
Los detalles no están claros.
•
Reflexiones en la imagen
Un lado de la imagen está desenfoca-
do.
II. Sección Eléctrica:
El LED no se enciende.
El brillo es insuficiente
La luz parpadea
III. Tubo de Observación:
El campo de visión es diferente para
cada ojo
CAUSA
La fuente de alimentación está desco-
nectada.
El brillo es demasiado bajo
Pilas descargadas
Suciedad y polvo en la muestra
Suciedad y polvo en el ocular
Diafragma de apertura demasiado ce-
rrado
Revólver en una posición incorrecta
Diafragma de apertura demasiado ce-
rrado
Las lentes (oculares y lentes) están
sucias
Revólver en una posición incorrecta
La muestra no está bien posicionada
(inclinada)
La calidad óptica de la diapositiva pre-
parada es pobre
El instrumento no está alimentado
Pilas descargadas
El brillo se establece bajo
El cable de alimentación no está bien
conectado
La distancia interpupilar no es correcta Ajustar la distancia interpupilar
Corrección de dioptrías no es correcta Ajustar la corrección de dioptrías
La técnica de la visión no es correcta,
y el operador fuerza su visión
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SOLUCIÓN
Conectar
Establézcalo en un nivel apropiado
Cargar las pilas
Limpiar la muestra
Limpiar el ocular
Abre el diafragma un poco
Gira el revólver hasta el clic
Abre el diafragma un poco
Limpie a fondo todos los componentes
ópticos
Gira el revólver hasta el clic
Coloque la muestra sobre la platina
plana.
Utiliza una diapositiva de mejor calidad
Compruebe la conexión del cable de
alimentación
Cargar las pilas
Ajustar el brillo
Compruebe la conexión del cable
Cuando mire la muestra, no se enfo-
que en un solo punto, sino mire todo
el campo de visión disponible. Quítese
los ojos periódicamente y observe un
punto distante, luego vuelva a analizar
la muestra