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Medida de corriente
Rango de medida
Resolución
Incertidumbre intrínseca
Medida de aislamiento CA 6161
Rango de medida a 100 V
Rango de medida a 250 V
Rango de medida a 500 V
Rango de medida a 1.000 V
Resolución
Incertidumbre intrínseca
Medida de aislamiento CA 6163
Rango de medida a 100 V
Rango de medida a 250 V
Rango de medida a 500 V
Rango de medida a 1.000 V
Resolución
Incertidumbre intrínseca
Tiempo de descarga típica de un elemento capacitivo para alcanzar 25 V
Tensión de prueba
Tiempo de descarga (C en µF)
Resistencia de descarga: 600 kΩ
Curva típica de la tensión de prueba en función de la carga
La tensión desarrollada en función de la resistencia medida tiene la siguiente forma:
0,01 – 39,99 µA
10 nA
0,000 – 9,999 MΩ
0,000 – 9,999 MΩ
0,000 – 9,999 MΩ
0,000 – 9,999 MΩ
1 kΩ
0,000 – 9,999 MΩ
0,000 – 9,999 MΩ
0,000 – 9,999 MΩ
0,000 – 9,999 MΩ
1 kΩ
100 V
1 s x C
V
I = 1 mA
U
N
R
= U
/ 1 mA
N
N
Figura 133
32,0 – 399,99 µA
100 nA
± (10% L + 3 ct)
8,00 – 99,99 MΩ
8,00 – 99,99 MΩ
8,00 – 99,99 MΩ
80,0 – 499,9 MΩ
8,00 – 99,99 MΩ
80,0 – 499,9 MΩ
10 kΩ
± (2% L + 2 ct)
8,00 – 99,99 MΩ
8,00 – 99,99 MΩ
8,00 – 99,99 MΩ
80,0 – 999,9 MΩ
8,00 – 99,99 MΩ
80,0 – 999,9 MΩ
10 kΩ
± (2% L + 2 ct)
250 V
1,5 s x C
98
0,320 – 1,500 mA
1 µA
–
–
400,0 – 1.000,0 MΩ
100 kΩ
100 kΩ
± (10% L + 2 ct)
–
–
0,80 a 30,00 GΩ
0,80 a 50,00 GΩ
100 kΩ
10 MΩ
± (10% L + 2 ct)
500 V
1.000 V
2 s x C
2,5 s x C
R
–
–
–
–
–
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