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MI 3125 / BT EurotestCOMBO
Parámetros de prueba para la prueba y medición de RCD
PRUEBA Prueba de subfunción RCD [RCDt, RCD I, AUTO, Uc].
I n
Sensibilidad asignada de corriente residual RCD I I
mA**, 10 mA, 30 mA, 100 mA, 300 mA, 500 mA, 1000 mA].
tipo
Tipo de RCD [AC, A, F, B*, B+*, EV**] polaridad de arranque [ , , ,
retardada
Factor de multiplicación para la corriente de prueba [½, 1, 2, 5 I
MUL
Límite de tensión de contacto convencional [25 V, 50 V].
Ulim
* Modelo MI 3125 BT
** EV RCD
Notas:
Ulim sólo puede seleccionarse en la subfunción Uc.
❑
Los RCD selectivos (temporizados) y los RCD con (G) - característica temporizada
❑
demuestran características de respuesta retardada. Contienen un mecanismo de
integración de la corriente residual para generar un disparo retardado. Sin
embargo, la tensión de contacto previa a la prueba en el procedimiento de
medición también influye en el RCD y tarda un tiempo en recuperarse al estado
de reposo. Se introduce un tiempo de retardo de 30 s antes de realizar la prueba
de desconexión para recuperar el RCD de tipo
y se introduce un tiempo de retardo de 5 s con el mismo fin para el RCD de tipo
.
La parte de c.a. de los dispositivos de corriente residual EV se prueba según EN
❑
61008 / EN 61009 como dispositivos de corriente residual generales (sin retardo).
La parte de corriente continua de los dispositivos de corriente residual EV se
❑
prueba con una corriente de prueba continua. El límite de paso está entre 0,5 y
1,0 I
.
N(DC)
Modificación del capítulo 5.4.1
Tipo RCD
CA
CA
A,F
A,F
A,F
A,F
S
EV parte
c.a.
B, B+
B, B+
S
*], característica selectiva
* ,,
, característica retardada
Tensión de contacto
Uc
proporcional a
,
1,05 I
2 1,05 I
,
1,4 1,05 I
2 1,4 1,05I
,
2 1,05 I
2 2 1,05 I
1,05 I
2 1,05 I
2 2 1,05 I
Cuadro C.1: Relación entre Uc e I
.
Clasificación
N
cualquier
N
N
30 mA
N
N
< 30 mA
N
N
cualquier
N
N
84
[6 mA**,30/6
N, N(DC),
, característica general no
después de las pruebas previas
I
N
Todos los modelos
Modelo MI 3125
N
Apéndice C
n].
BT
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