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centralMemoryTest
Figura 4-3 muestra el comando centralMemoryTest , que comprueba la
memoria central de cada Circuito Integrado de Aplicación Específica
(Application Specific Integrated Circuit, ASIC). Esta prueba asegura que:
El circuito integrado de reparación automática (BISR, built-in self-
I
repair) de cada chip ASIC no informe de fallos al reparar las celdas
defectuosas (prueba de bisr).
Las celdas de datos se puedan escribir y leer correctamente de forma
I
única (prueba de escritura/lectura de datos).
Los datos de cualquier ASIC se puedan leer desde cualquier otro ASIC
I
(prueba de asic-asic).
La paridad incorrecta se pueda detectar e indicar en el registro de errores
I
y se pueda enviar una interrupción (prueba de error de paridad).
Los errores de número de memoria intermedia se puedan detectar e
I
indicar en el registro de errores y se pueda enviar una interrupción
(prueba de error de número de memoria intermedia).
Los errores de número de chip se puedan detectar e indicar en el registro
I
de errores y se pueda enviar una interrupción (prueba de error de
número de chip).
IMPORTANTE: Esta prueba no se puede ejecutar en un conmutador operativo. Antes de
emitir el comando centralMemoryTest, desactive el conmutador con el comando
switchDisable.
switch:admin> centralMemoryTest
Running Central Memory Test ... passed.
Figura 4-3. Ejemplo del comando centralMemoryTest
NOTA: Los mensajes de error relacionados son DIAG-CMBISTRO, DIAG-CMBISRF,
DIAG-LCMTO, DIAG-LCMRS, DIAG-LCMEM, DIAG-LCMEMTX, DIAG-CMNOBUF, DIAG-
CMERRTYPE, DIAG-CMERRPTN, DIAG-PORTABSENT, DIAG-BADINIT y DIAG-TIMEOUT.
Diagnósticos 4-5
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