SICK VISIC620 Instrucciones De Servicio página 35

6 Diagnóstico de errores
6.1 Información importante
6.2 Mensajes de error
8013652/1LKW/V1-9/2024-02 | SICK
Sujeto a cambio sin previo aviso
ADVERTENCIA: Radiación láser
Es posible que debido a un defecto de hardware (raro) aumente la potencia de láser. En
este caso, el láser se clasificará como categoría 3B.
▸
No se exponga al haz láser.
Mensaje Descripción/causa
Error del hardware en la EEPROM
EEPROM def.
Es posible que no se haya cargado nin-
gún conjunto de parámetros durante
una actualización del software.
Durante la última medición de transmi-
Shutter
sión ha fallado el obturador.
Defecto en la calefacción de cristales
que está conectada con alambres blan-
Heater Wh
cos en la tarjeta de conductores (fibra
óptica).
Defecto en la calefacción de cristales
que está conectada con alambres
Heater Bn
marrones en la tarjeta de conductores
(láser).
Defecto en la calefacción de cristales
que está conectada con alambres gri-
Heater Gy
ses en la tarjeta de conductores (obtu-
rador).
Defecto en la calefacción de cristales
Heater Pk que está conectada con alambres rosas
en la tarjeta de conductores (receptor).
Defecto en la calefacción que está
conectada con alambres negros en la
Heater Bk
tarjeta de conductores (carcasa del lado
de receptor).
El valor determinado durante la medi-
ción de transmisión más reciente se
encuentra por debajo del E
que se ha inscrito en la ficha M
-> T
NANCE
Low Transm.
Posibles causas:
– Ensuciamiento u objeto en el
camino óptico
– La potencia del láser ya no puede
ajustarse posteriormente
Diodo monitor fuera de rango (2.0 V -
4.5 V)
Mon range Posibles causas:
– Degradación del láser
– Defecto del láser
L
RROR IMIT
-
AINTE
M .
RANSMISSION EASUREMENT
I N S T R U C C I O N E S D E S E R V I C I O | VISIC620
DIAGNÓSTICO DE ERRORES
Remedio
▸
Se requerirá reparación por parte de
SICK.
▸
En SOPAS, en la ficha R
clic en R P
ESET ARAMETER
▸
Reparación por parte de SICK.
▸
Controle si los conectores están
enchufados correctamente en la
tarjeta de conductores; de ser esto
el caso, será necesario que SICK
ejecute una sustitución.
▸
Elimine el ensuciamiento de los
cristales o los objetos en el camino
- óptico.
▸
Controle los valores L
M en la ficha D
ONITOR
D . V (véase "Comprobación
IAG ALUES
de los valores de medición internos",
página 28) y, en caso necesario, dis-
ponga la reparación por parte de
SICK (sustitución del láser).
▸
Disponga la sustitución por parte de
SICK.
6
, haga
ESET
.
C y
ASER URRENT
->
IAGNOSIS
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