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Prueba de máscara
Si presiona Crear máscara y parece que no se creó ninguna máscara, revise
las configuraciones de ± Y y ± X. Quizás sean tan elevadas que la máscara
no está visible.
Opciones de configuración de pruebas de máscaras
En el menú Prueba de máscara, presione la tecla programable Configuración
para ingresar al menú Configuración de máscara.
Ejecutar hasta
328
La tecla programable Ejecutar hasta le permite especificar una condición en la
cual finalizar la prueba.
• Para siempre — El osciloscopio funciona en forma continua. Sin embargo,
si se produce un error, sucederá la acción especificada utilizando la tecla
programable En error.
• N.º mínimo de pruebas — Elija esta opción y luego utilice la tecla
programable N.º de pruebas para seleccionar el número de veces que el
osciloscopio disparará, mostrará las formas de onda y las comparará con la
máscara. El osciloscopio se detendrá una vez completado el número de
pruebas especificado. El número mínimo de pruebas especificado puede
excederse. Si se produce un error, sucederá la acción especificada
utilizando la tecla programable En error. El número real de pruebas
completadas se muestra por encima de las teclas programables.
• Tiempo mínimo — Elija esta opción y luego use la tecla programable
Tiempo de prueba para seleccionar cuánto tiempo funcionará el
osciloscopio. Cuando haya pasado el tiempo seleccionado, el osciloscopio
se detendrá. El tiempo especificado puede excederse. Si se produce un
error, sucederá la acción especificada utilizando la tecla programable
En error. El tiempo de prueba real se muestra por encima de las teclas
programables.
• Sigma mínima — Elija esta opción y luego use la tecla programable Sigma
para seleccionar una sigma mínima. La prueba de máscara se ejecuta
hasta que se prueben suficientes formas de onda para lograr una sigma de
prueba mínima (si se produce un error, el osciloscopio realizará la acción
especificada por la tecla programable En error). Observe que ésta es una
sigma de prueba (la sigma de proceso máxima lograble, suponiendo que no
hay defectos, para un número determinado de formas de onda probadas)
en oposición a una sigma de proceso (que está vinculada con la cantidad
de fallos por prueba). El valor de sigma puede superar el valor seleccionado
cuando se elige un valor de sigma pequeño. Se muestra la sigma real.
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