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Leica Microsystems Heidelberg GmbH
9. Seleccione un juego específico de parámetros de captura (Aplicación)
Pulse la tecla "Beam" en el paso de trabajo "Acquisition".
En el cuadro de diálogo "Beam Path Setting" seleccione un método (ventana superior derecha).
Como método se entiende un lote de configuración del hardware (IPS: Instrument
Parameter Setting) específico para una técnica de captura determinada y un tipo
especial de preparación de la muestra. El término FITC/TRITC designa, por ejemplo, la
configuración para la captura por dos canales (simultánea) para ambas tinturas
fluorescentes FITC y TRITC). Junto con los métodos indicados por la empresa,
también pueden definirse y almacenarse métodos propios. Para ello, vea el capítulo
"Software para adaptaciones del usuario".
10. Seleccione el objetivo del microscopio.
Pulse la tecla "Obj." en el paso de trabajo "Acquisition".
Manual del usuario de Leica TCS SP2 español
Art. n.º: 159330056 / Vers.: 31102002
Puesta en servicio
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