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2-2.4 Diagnósticos
J(CR)
Mide la corriente durante el estado de reposo
TE(CR)*^C
Prueba de la memoria extendida. CUIDADO, TODOS LOS DATOS EL CTD DEL SEACAT SERÁN
DESTRUIDOS. Se escribe un patrón incremental en todas las ubicaciones de memoria de cada
RAM. Luego los datos de memoria son comparados al patrón. En cada pasada el patrón es
incrementado en una unidad. Cada pasada dura aproximadamente 5 segundos (40 segundos para
la memoria mas grande) y la prueba concluye luego de 256 pasadas (3 horas con la memoria mas
grande !)Para cada pasada (128Kbytes de memoria) el SEACAT envía el siguiente mensaje:
pass x
writing ram 0
writing ram 1
writing ram 2
writing ram 3
Al termino de la prueba o cuando se recibe la función Escape, el SEACAT presenta:
ram test passed with no errors
TM (CR)*^C
Prueba de la memoria. CUIDADO, TODOS LOS DATOS DEL SEACAT SERÁN DESTRUIDOS. Lo
mismo que para la memoria extendida, excepto que la prueba concluye luego de la pasada numero
0.
VR (CR)^C
Presenta los voltajes. La primera columna es el voltaje de las pilas dividido por 8,514, y le siguen:
el voltaje que representa la temperatura en el sensor de presión y el voltaje del sensor de presión.
Después de la ultima columna, se agregan 0, 2 o 4 columnas dependiendo de cuantos voltajes
externos se están muestreando.
CUIDADO:
Luego de la ejecución del comando VR, el SEACAT correrá indefinidamente hasta que se
implemente la función Escape. A no ser que se esté usando una fuente de poder externa, durante
todo este proceso se sacará de las pilas una corriente normal de 170 mA.
Ejemplo:
VR(CR)
el SEACAT enviará:
0.982 0.745 4.716
FR(CR)^C
Muestra las frecuencias corregidas y sin corregir
CUIDADO:
Luego de ejecutar el comando FR, el SEACAT correrá indefinidamente hasta que se implemente la
función Escape. A no ser que se esté usando una fuente de poder externa, durante todo este
proceso se sacará de las pilas una corriente normal de 170 mA.
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