P
ROTOCOLO DE CALIBRACIÓN MULTIPUNTO PARA LA CONDUCTIVIDAD DE LA MUESTRA
Protocolo de calibración multipunto para la
conductividad de la muestra
1.0 I
NTRODUCCIÓN
Ejecute el siguiente protocolo de calibración multipunto para la conductividad de la
muestra a fin de calibrar el Analizador de TOC Sievers Serie M500.
2.0 A
LCANCE
Este procedimiento corresponde al Analizador de TOC Sievers Serie M500.
3.0 M
ATERIALES
NOTA:
3.1 Analizador de TOC Sievers Serie M500
3.2 Hoja de trabajo de calibración multipunto para la conductividad de la muestra
3.3 Set de calibración multipunto para conductividad
3.3.1 Un vial — Cond. 100 µS/cm
3.3.2 Un vial — Cond. 146,9 µS/cm
3.3.3 Un vial — Cond. 718 µS/cm
3.3.4 (Opcional cuando se utiliza el sistema Super iOS) SUEZ recomienda el
set de lavado para enjuagar antes, después o antes y después de
ejecutar el protocolo.
4.0 D
EFINICIONES
4.1 N
INGUNA
5.0 P
ROCEDIMIENTO
5.1 (OPCIONAL) Si está habilitado DataGuard, inicie la sesión en el analizador
con el ID Usuario y la Contraseña apropiados.
5.2 Si el analizador está tomando mediciones, pulse Detener análisis (Stop
Analysis
5.3 Exporte la configuración actual del sistema para tener una referencia futura o
volver a cargarla mediante los pasos en "Guardar configuraciones del
sistema", en la página 25.
A
TOC S
NALIZADORES DE
IEVERS
DVL 78100-01 ES R
. A
EV
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Utilice sólo los estándares Sievers adquiridos en SUEZ.
.
M500
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P
AQUETE DE CALIFICACIÓN DE INSTALACIÓN Y OPERACIÓN
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