Datos Técnicos; Datos Técnicos Sp-Cop1 / Sp-Cop2-Xxx - Wieland SP-COP1 Manual Del Usuario

6 Datos técnicos
6.1 Datos técnicos SP-COP1 / SP-COP2-xxx
Nivel de integridad de seguridad SIL3 (IEC 61508)
Límites de reclamación SIL
Categoría
Nivel de rendimiento
(Performance Level - PL)
PFHd (Probabilidad media de un
fallo peligroso por hora)
D (vida útil)
M
Clase de protección
Grado de protección
Temperatura ambiente durante el
servicio
Temperatura de almacenamiento –25 ... +70 °C
Humedad del aire
Resistencia a vibraciones
Resistencia a choques
− Choque continuo
− Choque único
Compatibilidad electromagnética Clase A (EN 61000-6-2,
Interfaz de datos
Interfaz de comunicación 1
Interfaz de comunicación 2
Dimensiones (an × al × pr)
- Bornes roscados
- Bornes a resorte
Peso
Datos relativos a los bornes y a
la conexión
Unifilar o de hilo fino
De hilo fino con virola de cable
Par de apriete máx.
Tamaño de cable AWG (utilizar
solamente cables de cobre)
Longitud de pelado del cable
Alimentación para el sistema (A1, A2)
Tensión de alimentación
Tipo de tensión de alimentación
Consumo de potencia
Atención: El consumo de
potencia aumenta con cada
módulo que se conecte al
sistema.
Tiempo de conexión
Dispositivo de protección contra
cortocircuitos
Alimentación de los grupos de salida B1 y B2 (B2: solo SP-COP2)
Tensión de alimentación
Tipo de tensión de alimentación
Consumo de potencia
30
SP-COP2-xxx
SILCL3 (EN 62061)
Categoría 4 (EN ISO 13849-1)
PL e (EN ISO 13849-1)
véase BA000966, cap. Valores
característicos técnicos de
seguridad
20 años (EN ISO 13849)
III (EN 61140)
IP 20 (EN 60529)
–25 ... +65 °C
10...95 %, sin condensación
5 Hz ... 150 Hz (EN 60068-2-6)
10 g, 16 ms (EN 60068-2-29)
30 g, 11 ms (EN 60068-2-27)
EN 55011)
Bus de seguridad interno
USB mini
RJ45 (solo SP-COP2-ENx)
45 x 96,5 x 121 mm
45 x 107 x 121 mm
290 g (± 5%)
Bornes roscados Bornes a
resorte
2
1 x 0,2–2,5 mm 2 x 0,2–1,5 mm²
2
2 x 0,2–1,0 mm
1 × 0,25–2,5 mm² 2 x 0,25–
2 × 0,25–1,0 mm² 1,5 mm²
̶
0,5...0,6 Nm
(5-7 lbf-in)
26 - 14 24 - 16
7 mm
24 V CC (16,8 ... 30 V CC)
MBTP o MBTS
La corriente de la fuente de
alimentación debe limitarse a 4 A
como máximo, a través de la
propia fuente de alimentación o
mediante un fusible
Máx. 3,3 W
Máx. 18 s
4 A gG
24 V CC (16,8 ... 30 V CC)
MBTP o MBTS
La corriente de la fuente de
alimentación debe limitarse de
forma externa a 8 A como
máximo por grupo de salida (B1 y
B2), a través de la propia fuente
de alimentación o mediante un
fusible.
2 x 0,3 W
Dispositivo de protección contra
cortocircuitos
Circuito de entrada / SP-COP1: I1 - I20 / SP-COP2-xxx: I1 - I16, IQ1 -
IQ4
Número de entradas
SP-COP1:
SP-COP2-xxx:
Tensión de entrada HIGH
Tensión de entrada LOW
Corriente de entrada HIGH
Corriente de entrada LOW
Capacidad de entrada
Entrada de corriente invertida al
interrumpir la medición
Salidas de prueba (T1 - T4)
Número de salidas
Tipo de salida
Tensión de salida HIGH
Corriente de salida LOW
Corriente de salida HIGH
Frecuencia de impulsos de
prueba (periodo de prueba)
Duración de impulso de prueba
(intervalos de prueba)
Capacidad de carga
Resistencia de línea
Salidas de seguridad SP-COP1: Q1 - Q4 SP-COP2-xxx: Q1 - Q4, IQ1 -
IQ4
Número de salidas SP-COP1:
SP-COP2-xxx:
Tipo de salida
Tensión de salida HIGH
Corriente de salida HIGH
Corriente de sobrecarga máx. /
duración
Intensidad residual Isum
≤ 45 °C
T
U
≤ 55 °C
T
U
≤ 65 °C
T
U
Prueba de salidas, desactivable
Duración del impulso de prueba
Frecuencia del impulso de
prueba
Corriente de fuga LOW
Capacidad de carga
Resistencia de línea
Energía máx. de bobina
admisible sin elementos de
protección externos
Tiempo de reacción
6.2 Homologations
 TÜV
La homologación se ha efectuado de conformidad con los requisitos
para aplicaciones generales de la UL508.
8 A gG
20
20 (16 entradas fijas y 4
seleccionables)
13 ... 30 V CC
–5 ... +5 V CC
Típ. 2,3 mA / Máx. 6 mA
< 2 mA
10 nF
< 0,1 mA
4 (con 4 generadores de señal de
prueba independientes)
Semiconductor, push-pull, a
prueba de cortocircuitos
U - 1,2 V
A1
-10 mA (limitado)
Salida individual: máx. 120 mA
Suma de todas las salidas de
prueba: máx. 120 mA
1 ... 25 Hz, configurable
1 ... 100 ms, configurable
1 µF para intervalo de prueba ≥
4 ms
0,22 µF para intervalo de prueba
1 ms
< 100 Ω
4
8 (4 salidas fijas y 4
seleccionables)
High-Side-MOSFET, a prueba de
cortocircuitos y con supervisión
de corriente
≥ U
U - 0,6 V
Qn Bx
≤ 4,0 A
≤ 12 A / 8 ms
Por cada par de salidas (Q1/2,
Q3/4, IQ1/2, IQ3/4)
≤ 4,0 A
≤ 2,5 A
≤ 1,6 A
≤ 450 µs
10 Hz
< 0,1 mA
0,5 µF
< 200 Ω
< 0,125 J
Depende de la lógica configurada