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for both reverse and forward bias tests indicate an open diode. A low voltage
reading for both bias tests indicates a shorted diode. If the diode is shunted by
a resistor of 1000 ohms or less, it must be removed from the circuit before
taking the measurement. Bipolar transistor junctions may be tested in the same
manner described above.
De Dioden- und Transistortest (siehe Fig. 4)
Der Diodentest zeigt den Spannungsabfall über den Diodendurchgang O
Roles Meßkabel mit VQ Eingang und schwarzes mit COM Eingang
verbinden. Ө Funktionsschalter auf P+
stellen. Ф MeBkabel mit Diode
verbinden — roles mit Anode; schwarzes mit Kathode. O Spannungsablall
in Durchlaßrichtung ablesen (ung. 0.700V für eine Silikon-Diode und
0.400V für eine Germaniumdiode. Eine offene Diode wird mit Überlast
angezeigt. W Verbindung umdrehen um in Sperrrichlung zu messen.
Uberlast zeigt eine gute Diode an. Anmerkung: Überlast in beiden
Richtungen zeigt eine offene Diode an; eine niedrige Ablesung eine
kurzgeschlossene Diode. Transistorübergänge können wie Dioden getestet
werden.
Е • Comprobaciön de diodos у transistores (ува Fig. 4)
En esta prueba se mide la polarización directa de la unión del diodo. ©
Conecte la punta de prueba roja a la entrada V-Q y la negra a la entrada
COM. O Ponga el selector de función en la posición PH
@ Aplique la
punta de prueba roja al ánodo del diodo y la negra al cátodo. O El
visualizador indica la caída de tensión directa (aprox. 0.7 V para 010005 de
silicio, 0 0.4 У para diodos de germanio). Si la unión está abierta зе indica
como sobrecarga. № Invierta la conexión de las puntas de prueba para
verificar la polarización inversa del diodo. Una indicación de sobrecarga
significa que el diodo está en buen estado.
Notas: La condición de sobrecarga en ambos sentidos indica un diodo
abierto. Un valor bajo en ambos sentidos indica un diodo cortocircuitado.
Si el diodo tiene en paralelo una resistencia menor o igual a 10000, deberá
extraerlo del circuito antes de hacer la medida. Las uniones de un transistor
bipolar pueden comprobarse de la misma forma que los diodos.
Е e Test de Diodes el de Transistors (voir fig. 4)
OS
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