Datos técnicos
Salidas por semiconductor bipolares
Intervalo de corriente permitido
Tensión en los bornes al desconectar cargas inducti-
vas
Corriente de salida típica con señal a "1" y tensión
nominal salidas por semiconductor
Corriente residual con señal a "0"
Corriente pulsada máx. para t < 100 ms
Detección de rotura de conductores a partir de
Separación de potencial
A prueba de cortocircuitos
Cargas permitidas
Umbral de relectura salida por semiconductor
Duración máx. del impulso de test de conexión
Duración máx. del impulso de test de desconexión
Tiempo de procesamiento máx. de la salida por semi-
conductor con cambio de señal de "0" a "1"
Tiempo de procesamiento máx. de la salida por semi-
conductor con cambio de señal de "1" a "0"
Salidas de tacto de prueba
Número de salidas de tacto de prueba
Tensión salidas de tacto de prueba
A prueba de cortocircuitos
Número de las salidas configurables como tacto de
prueba
Corriente de salida máx. con señal a "1"
Longitud de línea máx. entre salida de tacto de prue-
ba y entrada
Norma para cortes de tensión
Tiempos
Tiempo de reacción máx. de la desconexión rápida
con cambio de señal de "1" a "0" (en función del
tiempo de filtrado de entrada configurado)
Tiempo de reacción máx. de la desconexión rápida
con cambio de señal de "0" a "1" (en función del
tiempo de filtrado de entrada configurado)
Datos ambientales
Condiciones climáticas
Temperatura ambiente
según normativa
Rango de temperatura
Temperatura de almacenaje
según normativa
Rango de temperatura
Manual de instrucciones PSSu K F FCU
1002391-ES-10
0,00 - 3,50 A
-185 V
3 A
0,02 A
12 A
0,17 kOhm
Sí
Sí
inductiva, capacitiva, resistiva
9 V
4 ms
400 µs
9,3 ms
0,25 ms
2
24 V DC
Sí
2
0,25 A
200 m
DIN V EN V 1954, EN61131-2, EN61496-1
0,45 - 3,55 ms
0,65 - 3,75 ms
EN 60068-2-1, EN 60068-2-14, EN 60068-2-2, EN
60068-2-30, EN 60068-2-78
EN 60068-2-14
0 - 60 °C
EN 60068-2-1/-2
-25 - 70 °C
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