Chauvin Arnoux C.A 6545 Manual De Instrucciones página 27

Temps d'établissement typique de la mesure en fonction des éléments testés (U
U )
n
Ces valeurs incluent les influences dues à la charge de la composante capacitive, au système de
gamme automatique et à la régulation de la tension d'essai
Tension d'essai
500 V
1000 V
2500 V
5000 V
Temps de décharge typique d'un élément capacitif pour atteindre 25 V
Tension initiale
Temps de décharge ( C en µF)
Courbe d'évolution typique des tensions d'essai en fonction de la charge
V
600
500
400
300
200
100
0
0,01
V
1200
1000
800
600
400
200
0
0,1
Charge Non capacitive
(mesure non lissée)
1 MΩ
100 GΩ
1 MΩ
100 GΩ
3 MΩ
100 GΩ
5 MΩ
100 GΩ
500 V 1000 V
C x 3 s C x 4 s
Calibre 500 V
0,1
Calibre 1000 V
27
Avec capacité de 1 µF
(Mesure lissée)
3 s 4 s
8 s 40 s
3 s 4 s
8 s 80 s
3 s 4 s
8 s 90 s
4 s 16 s
8 s 120 s
DC
2500 V
C x 4 s
1 MW
1 MW
= 0,03
dist
5000 V
C x 7 s