Configuraciones Generales (Grupo 4) - Leuze electronic CSL 710 Serie Instrucciones Originales De Uso

Configuraciones generales (grupo 4)

En el grupo 4 «Configuraciones generales» se configura el tipo de exploración (haces paralelos/
diagonales/cruzados), el diámetro mínimo del objeto para la evaluación (smoothing), la profun-
didad de evaluación y el bloqueo de teclas en el panel de servicio del receptor.
Parámetros
Ajustes generales
Modo de trabajo de
haces
Smoothing
Profund. de eval.
Nivel de conmutación de
las entradas/salidas
Bloqueo de teclas y dis-
play
Ajustes de blanking (grupo 5)
Se pueden desactivar hasta 4 áreas de haces. A los haces desactivados se les puede asignar
los valores lógicos 0, 1 o el valor del haz contiguo. Cuando está activado el autoblanking, en el
Teach se inhiben automáticamente hasta cuatro áreas de haces.
Active el autoblanking solo durante la puesta en marcha del equipo para ocultar objetos. Desac-
tive el autoblanking en el modo de proceso.
Para obtener información más detallada vea capítulo 10.3.
AVISO
¡Realizar un Teach tras cambiar la configuración de blanking!
 Después de cambiar la configuración de blanking debe ejecutarse un Teach.
Un Teach puede ejecutarse mediante el panel de servicio del receptor o mediante el comando Teach.
Leuze electronic
Index Sub- Tipo de datos Acceso Rango de
Index
71 0 record 32 bit,
acceso ais-
lado a Sub-
Index no es
posible
71 1 unsigned 8
(Bit-
Offset
= 24)
71 3 unsigned 8
(Bit-
Offset
= 8)
74 2 unsigned 8
(Bit-
Offset
= 16)
77 0 unsigned 8
78 0 unsigned 8
Puesta en marcha – CSL 710 con interfaz IO-Link
Default Explicación
valores
RW
RW 0 ... 2 0
RW 1 ... 255 1
RW 1 ... 255 1
RW 0 ... 1 1
RW 0 ... 1 0
CSL 710
0: Exploración de haces paralelos
1: Exploración de haces diagonales
2: Exploración de haces cruzados
Smoothing:
Haces interrumpidos inferiores a i se pasan por
alto.
La profundidad de evaluación determina la canti-
dad de estados de haces coherentes que se nece-
sitan hasta que se ejecuta la evaluación de los
valores de medición. La profundidad de evaluación
corresponde a la cantidad de ciclos con haz inte-
rrumpido para que el resultado provoque la
activación.
0: Transistor, NPN
1: Transistor, PNP
Bloquear los elementos de uso del equipo.
0: Liberado
1: Bloqueado
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