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Funcionamiento en memoria digital
permite reconocer rápidamente el cátodo de un diodo normal
o zener cuya impresión es ilegible, diferenciar un transistor p-
n-p del tipo complementario n-p-n o averiguar las conexiones
B-C-E de un tipo de transistor desconocido.
Obsérvese que con la inversión de los polos de conexión de
un semiconductor (inversión del borne COMP. TESTER con el
borne de masa) se provoca un giro de la imagen de test de
180° sobre el centro de la retícula.
Aún más importante es el resultado bueno-malo de componen-
tes con interrupción o cortocircuito. Este caso es el más común
en el servicio técnico.
Se recomienda encarecidamente actuar con la precaución
habitual para el caso de electricidad estática o de fricción en
relación con elementos sueltos MOS. Pueden aparecer tensio-
nes de zumbido en la pantalla, si el contacto base o gate de un
transistor está desconectado, es decir, que no se está
comprobando (sensibilidad de la mano).
Los test directamente en el circuito son posibles en muchos
casos, aunque no son tan claros. Por conexión paralela con
valores reales y/o complejos, especialmente si estos tienen
una resistencia baja con frecuencia de red, casi siempre
resultan grandes diferencias con elementos sueltos. También
aquí muchas veces resulta útil la comparación con un circuito
intacto, si se trabaja continuamente con circuitos idénticos
(servicio técnico). Este trabajo es rápido, ya que no hace falta
(¡y no se debe!) conectar el circuito de comparación. Los
cables de test se colocan sucesivamente en los puntos de
control idénticos y se comparan las imágenes en la pantalla.
Es posible que el mismo circuito a comprobar disponga de un
circuito para la comparación como por ejemplo en canales
estéreo, funcionamiento de contrafase, conexiones de
puentes simétricos. En caso de duda se puede desoldar una
conexión del componente. Esta conexión se conecta con el
borne CT sin señal de masa, ya que entonces se reducen las
perturbaciones de zumbido. El borne con la señal de masa
está conectado con la masa del osciloscopio. Por esto no es
sensible al zumbido.
Al comprobar directamente en el circuito, es preciso desco-
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nectar los cables de medida y sondas atenuadoras conectadas
al circuito. Sino, ya no se podrían analizar libremente los puntos
de medida (doble conexión de masa).
Funcionamiento en memoria digital
El modo de memoria digital ofrece las siguientes ventajas
en relación al modo analógico:
Los eventos que aparecen de forma esporádica se pueden
captar fácilmente. Las señales de baja frecuencia pueden ser
presentadas en pantalla como una trazado continuo y completo
libre de parpadeo. Las señales en alta frecuencia y con
frecuencia de repetición baja, no pierden luminosidad. Las
señales capturadas pueden ser procesadas y documentadas
de forma fácil.
Pero también hay desventajas en comparación con el modo
analógico:
Una resolución inferior en X e Y y la inferior frecuencia de
captación de la señal. Además, la frecuencia de señal máxima
presentable depende de la base de tiempos. Con una
frecuencia de muestreo demasiado baja, pueden aparecer
presentaciones de señal "alias" (aliasing), que presentan una
señal que no existe en esa forma. El modo analógico es
insuperable en lo que se refiere a la presentación en pantalla
del original. La combinación de osciloscopio analógico y
digital, ofrece al usuario la posibilidad, dependiendo de la
tarea de medida, escoger el modo de funcionamiento más
idóneo en cada caso. incorpora dos convertidores
A/D de 8 bit, cuya frecuencia de muestreo máx.. es de 100MS/
s cada uno. Excepto en barridos únicos en modo DUAL, con
un máx. de 100MS/s, la frecuencia de muestreo en todos los
restantes modos de funcionamiento digital es de 200MS/s,
Reservado el derecho de modificación
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