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Capítulo 4
Secuencias de Pruebas Automatizadas
Hay varias secuencias de pruebas automatizadas disponibles en el analizador
FP35. Una secuencia de su preferencia es incluida como un dispositivo estándar
cuando ordena el FP35. Las otras secuencias de pruebas pueden ser añadidas
como dispositivos opcionales.
Las secuencias de pruebas automatizadas disponibles incluyen: ANSI 96*,
IEC*, JIS*, y ISI*. La secuencia de prueba ACIC se incluye cuando se ordena la
Opción CIC; esta es una versión de la secuencia de prueba ANSI 96* con facto-
res de corrección para software CIC* añadidos.
4 . 1 Pruebas con el estándar IEC*
El estándar IEC 118-7 fue diseñado por la Comisión Electrotécnica Internacional
(International Electrotechnical Commission) para probar los audífonos. La parte
del funcionamiento de este estándar puede ser incluido en forma de secuencia
automatizada en su FP35.
Presione [F4] en la pantalla de Apertura (Opening Screen) de su analizador FP35.
4 . 1 . 1 Examinado el Display del IEC (IEC Display)
Figura 4.1.1A—Resultados de pruebas IEC, Pantalla Frequency Response (Respuesta por
Frecuencia).
Nota: Las palabras seguidas por un asterisco * aparecerán en el glosario al
final del manual.
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