Chauvin Arnoux C.A 6545 Manual De Instrucciones página 33

 Temps d'établissement typique de la mesure en fonction des éléments testés (U
Ces valeurs incluent les infl uences dues à la charge de la composante capacitive, au système de
gamme automatique et à la régulation de la tension d'essai.
Tension d'essai
500 V
1000 V
2500 V
5000 V
 Temps de décharge typique d'un élément capacitif pour atteindre 25 V
Tension initiale
Temps de décharge (C en µF)
 Courbe d'évolution typique des tensions d'essai en fonction de la charge
V
600
500
400
300
200
100
0
0,01
Non capacitive
Charge
(mesure non lissée)
1 M 
100 G 
1 M 
100 G 
3 M 
100 G 
5 M 
100 G 
500 V
C x 3 s
Calibre 500 V
0,1
33
Avec capacité de 1 µF
3 s
8 s
3 s
8 s
3 s
8 s
4 s
8 s
DC
1000 V 2500 V
C x 4 s C x 4 s
= 0,03 U )
dist n
(Mesure lissée)
4s
40 s
4 s
80 s
4 s
90 s
16 s
120 s
5000 V
C x 7 s
M 
1