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Caractéristiques techniques
Principe de mesure
Source lumineuse
Introduction de l'échantillon
Température admissible
Température de stockage
Exactitude de la température
Plage de mesure nD
(indice de réfraction)
Plage de mesure nD
(indice de réfraction)
Exactitude
Résolution
Plage de mesure Brix
Exactitude
Résolution
Afficheur
Matériaux
boîtier
cellule de mesure
(Refracto 30PX)
cellule de mesure
(Refracto 30GS)
matériaux en contact
avec l'échantillon
matériaux en contact
avec l'échantillon
Poids
Durée de mesure par échant.
Mémoire données
Interface
Alimentation par piles
Capacité des piles
Plage de mesure et exactitude des autres unités: voir page 22.
Sous réserve de modifications techniques.
METTLER TOLEDO Refracto 30PX/GS
Caractéristiques techniques
mesure de l'indice de réfraction par la
méthode de réflexion totale
LED, λ = 589.3 nm
par pipette (mode sur table) ou par
immersion de la cellule de mesure dans
l'échantillon (mode immersion)
10...40 °C
–20...70 °C
±0.2 °C
1.32...1.50 (Refracto 30PX)
1.32...1.65 (Refracto 30GS)
±0.0005
0.0001
0...85 %
±0.2 %
0.1 %
Afficheur rétroéclairé
PBT (Polyester)
acier inoxydable SUS 316, verre
laiton plaqué or, saphir
PBT, acier inoxydable, verre (Refracto 30PX)
PBT, or, saphir (Refracto 30GS)
env. 200 g
3...180 secondes
1100 résultats
infrarouge pour imprimante ou PC
2 x 1.5 V (LR03); piles modèle AAA
env. 60 heures (à raison d'une mesure par
minute, rétroéclairage éteint.)
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