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8024598/1H31/2022-08-29 | SICK
Sujeto a cambio sin previo aviso
Alcance del campo del con‐
torno de referencia
Alcance del campo de reco‐
nocimiento de contorno
Alcance del campo de adver‐
tencia
Rango de medición de distan‐
cia
Campos
Campos controlados de
forma simultánea
Registros de campo
Tablas de casos de supervi‐
sión
Casos de supervisión
Ángulo de exploración
Resolución del campo de pro‐
tección
Resolución angular
Tiempo de respuesta
Tiempo de ciclo de explora‐
ción
Propuesta del campo de pro‐
tección generalmente nece‐
saria (RT = rango de toleran‐
cia del escáner láser de segu‐
ridad)
Suplemento Z
para errores
R
de medición por reflexión
Desviación respecto a la pla‐
nicidad ideal del campo de
exploración a 3 m
Evaluaciones múltiples
Tabla 29: Características técnicas de seguridad
Tipo
Nivel de integridad de seguri‐
dad
Límite de respuesta SIL
Categoría
Nivel de rendimiento (PL)
PFH
(probabilidad media de
D
un potencial riesgo por fallo a
la hora)
T
(duración de uso)
M
Estado seguro en caso de
fallo
nanoScan3 Core I/O
Como el alcance campo de protección,
conmutación", página 131
Como el alcance campo de protección,
conmutación", página 131
≤ 10 m
≤ 40 m
≤ 8
≤ 4
≤ 8
1
≤ 2
275° (–47,5° ... 227,5°)
20 mm, 30 mm, 40 mm, 50 mm, 60 mm, 70 mm, 150 mm,
200 mm
0,17°
≥ 70 ms, detalles:
véase "Tiempos de respuesta", página 130
30 ms
65 mm
350 mm
≤ ± 75 mm
2 ... 16
nanoScan3 Core I/O
Tipo 3 (IEC 61496)
SIL 2 (IEC 61508)
SILCL 2 (IEC 62061)
Categoría 3 (ISO 13849-1)
PL d (ISO 13849-1)
8 × 10
–8
20 años (ISO 13849-1)
Como mínimo una salida conmutada segura (OSSD) se encuen‐
tra en estado OFF.
I N S T R U C C I O N E S D E U S O | nanoScan3 I/O
13
DATOS TÉCNICOS
nanoScan3 Pro I/O
véase "Distancia de
véase "Distancia de
≤ 128
≤ 8
≤ 128
2
≤ 128
nanoScan3 Pro I/O
125
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