Publicidad
RESUMEN DEL MODO DE PRUEBA
Pulse el botón "Modo" para recorrer los modos de prueba y seleccionar el
deseado. Puede seleccionar entre los modos de prueba: "IR" resistencia de
aislamiento, "PI" índice de polarización, "SV" voltaje escalonado y "DD"
descarga dieléctrica. Si los temporizadores T1 y T2 están configurados, el
dispositivo calculará de modo automático la relación de absorción
dieléctrica "DAR" del aislamiento. Los valores de PI, DAR e IR se guardan
de forma automática y se muestran si los datos están disponibles,
independientemente del modo de prueba seleccionado. Al finalizar una
prueba, se puede hacer que el dispositivo muestre las resistencias de
aislamiento, corrientes de aislamiento o relaciones más mediciones de
capacitancia mediante el botón de desplazamiento 'Ω/I'. Consulte la
sección 'Botón Ω/I' para recorrer los resultados y conmutar entre
unidades.
Filtro de hardware
El filtro de corriente de ruido de hardware puede activarse o desactivarse
antes de la prueba, pero no durante la misma. Desactivar el filtro de
hardware puede resultar beneficioso para pruebas de corta duración y
capacitancias de gran carga, siempre que haya poca corriente de ruido.
Esta función puede configurarse en cualquier modo, por ej., IR, PI, SV , o
DD. Pulse y mantenga pulsado el botón Fn mientras pulsa repetidas veces
el botón Ω/I para desplazarse por las opciones de filtro. Seleccione FIL
OFF para el tiempo de estabilización más rápido o FIL ON para el filtro de
ruido de 4mA predeterminado. Nótese que si selecciona FIL OFF, se
desactivará la opción de filtrado del soporte lógico incorporado (consulte
la sección "Prueba de resistencia de aislamiento "IR""). Durante la prueba
no podrá modificarse esta configuración.
Prueba de resistencia de aislamiento 'IR'
Este es el modo predeterminado en el que el dispositivo se carga al
encenderse. Este modo de prueba mide la resistencia de aislamiento de
forma continua en el voltaje seleccionado. Durante la prueba 'IR' puede
modificarse el voltaje de prueba pulsando los botones de voltaje de
prueba L o M. Puede configurar la duración de la prueba mediante el
"temporizador principal". Una vez transcurrido ese tiempo, la prueba
finalizará automáticamente. Al finalizar la prueba, se calcula y muestra la
capacitancia de aislamiento y la constante de tiempo asociada con la
misma.
Constante de tiempo (TC) = R
Si los temporizadores T1 y T2 están configurados, el dispositivo calculará y
mostrará el valor DAR bajo el segmento "DAR". Al finalizar la prueba, el
dispositivo mostrará la resistencia de aislamiento medida en esos tiempos
bajo los símbolos 'T1' y 'T2' del segmento. Si la prueba dura más de 10
minutos, el dispositivo calculará el "índice de polarización". Este valor se
mostrará en el visor bajo el símbolo "PI" del segmento. Al finalizar la
prueba, el dispositivo mostrará la resistencia de aislamiento grabada a 1
minuto y a los 10 minutos bajo los símbolos '1m' y '10m' del segmento.
Al pulsar el botón 'Ω/I' se conmuta el visor para mostrar las resistencias de
aislamiento, corrientes de aislamiento, relaciones DAR y PI y la
capacitancia. Las resistencias y corrientes se mostrarán bajo los
encabezados de segmento 'T1', 'T2', '1m' y '10m'; las relaciones se
mostrarán bajo los encabezados de segmento 'DAR' y 'PI'. La lectura de
capacitancia se indica mediante sus unidades de 'nF' o 'µF'. Consulte la
sección 'Botón Ω/I'.
Filtrado del soporte lógico incorporado
Existe una opción (sólo en el modo Resistencia de aislamiento) para poner
en funcionamiento el filtrado del soporte lógico incorporado para calcular
el promedio de las variaciones lentas. Las constantes de tiempo del filtro
de soporte lógico incorporado son de 10, 30 y 100 segundos. La
configuración del filtro de soporte lógico incorporado adicional puede
realizarse antes o durante una prueba, a menos que el filtro se haya
configurado en FIL OFF (filtro apagado) antes de que comenzara la
prueba, en cuyo caso la opción de filtrado del soporte lógico incorporado
adicional no estará disponible durante la prueba. Si este filtro se pone en
funcionamiento durante una prueba, entonces todos los resultados
x C
ins
ins
15
Publicidad
