IFM Electronic efector110 GM701S Instrucciones De Uso página 61

L'intervalle de test (T1) pour cet appareil corresponde à la durée
d'utilisation maximale (T).
Termes et abréviations
FIT
Distance de
déclenchement sûre
MTTF
OSSD
PDF
PDF-M
PFD
avg
PFH bzw. PFH
D
État de sécurité
SIL
SIL
cl
T
T1
Failure in Time
-9
x 10 /h
Assured
release distance
Mean time to failure
Output Signal Switch
Device
Proximity device with
defined behaviour un-
der fault conditions
PDF with self Monito-
ring
Average Probality of
Failure on Demand
Probability of a dange-
rous Failure per Hour
-
Safety Integrity Level
Safety Integrity
Level
claim limit
Life time
Test Interval
(between life testing
of the safety function)
Taux de défaillance (par heure)
-9
x 10 /h
Distance par rapport à la face active dans
laquelle la détection correcte de
l'absence d'un objet stipulé (voir Chapitre
8) est atteinte dans toutes les conditions
environnantes stipulées et ne niveau de
sécurité défini.
Durée moyenne avant défaillance
Signal de sortie de commutation (pour:
GM701S: deux sorties sémiconducteurs PNP)
Dispositifs de détection de proximité à
comportement défini en cas de défaut
PDF auto-contrôle
Probabilité moyenne des défaillance d'une
fonction de sécurité sur demande
Probabilité d'une défaillance dangereuse
par heure
Au moins un des deux OSSD est à l'état
désactivé
Niveau de sécurité
SIL 1-4 selon DIN EN 61508.
Plus le niveau SIL est haut, plus faible est la proba-
bilité d'une défaillance de la fonction de sécurité
Niveau de sécurité
claim limit
Durée de vie (= durée d'utilisation)
Intervalle de test
(entre tests de la fonction de sécurité)
FR
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