Configuración De La Ficha Test Output - Rockwell Automation Allen-Bradley 1732DS-IB8 Manual Del Usuario

Capítulo 5 Configuración de módulos con la aplicación Logix Designer
Configuración de la ficha
Test Output
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6. Asigne un valor a Input Delay Time, On -> Off (de 0 a 126 ms, en
incrementos de 6 ms).
El tiempo de filtro es para la transición de activado a desactivado.
La entrada debe estar en LO cuando haya transcurrido el retardo de
entrada antes de que se establezca en 0 lógico. Este tiempo de retardo se
configura canal por canal, y cada canal se ajusta específicamente para
que coincida con las características del dispositivo de campo para
conseguir el máximo rendimiento.
7. En el cuadro Input Error Latch Time, introduzca el tiempo que el
módulo mantendrá un error para asegurarse de que el controlador
pueda detectarlo (de 0 a 65,530 ms, en incrementos de 10 ms; el valor
predeterminado es 1000 ms).
Esto proporciona diagnósticos más confiables y aumenta la
probabilidad de que se detecte un falso error. El propósito de enclavar
errores de entrada es asegurar que los fallos intermitentes que solo
pueden existir por unos milisegundos se enclaven el tiempo suficiente
para ser leídos por el controlador. El tiempo para enclavar los errores
debe basarse en el RPI, el temporizador de vigilancia de las tareas de
seguridad y otras variables específicas de la aplicación.
8. Haga clic en OK.
En esta sección se describe cómo funciona el cuadro de diálogo Test Output
Configuration. Consulte esta tabla para obtener información sobre la
configuración de salidas de prueba.
Siga este procedimiento para completar la configuración de salida de prueba.
1. En el cuadro de diálogo Module Properties, haga clic en la ficha Test
Output.
Publicación de Rockwell Automation 1791DS-UM001J-ES-P - Mayo 2013