Min ET Limit
Parámetro
(Límite de la
ET mínima)
ET Lower Limit
for Stress
Condition
(Límite inferior
de la ET para
la condición de
esfuerzo)
Min ET Value
Parámetro
(Valor de la ET
mínima)
Time Below
Parámetro
Lower Stress
Limit (Hora
inferior al límite
inferior de
esfuerzo) =
Time Since
Método
Last ET Down
(Tiempo desde
la última
desactivación
de la ET)
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Manual de usuario de opciones HART/DE de la serie STT850
Tabla 20: Diagnóstico de la ET mínima
Descripción
Configuración
Descripción
Ejemplo
Configuración
Descripción
Configuración
NVM
Descripción
Configuración
NVM
Descripción
Configuración
NVM
Límite de funcionamiento inferior de la
temperatura de la electrónica (ET) de la
especificación.
Las unidades son las mismas unidades
de grado que se han seleccionado para
la SV (variable secundaria).
Ninguna.
Límite real utilizado en "Time Below
Limit" (Tiempo inferior al límite) y en
"Time Since Last Event" (Tiempo desde
el último evento). El valor es igual al de
"Min ET Limit" (Límite mínimo de la ET)
más el 10 % del rango de límites.
El rango de la temperatura de la
electrónica es de -40 C a 85 C para
un total de 125 C.
"ET Lower Limit" (Límite inferior de la
ET para la condición de esfuerzo) -
40 C + 10 % de 125 C = -27,5 C.
Ninguna, el cálculo es automático.
Temperatura de la electrónica más baja
que ha experimentado el dispositivo.
Las unidades son las mismas unidades
de grado que se han seleccionado para
la SV (variable secundaria).
Ninguna.
Actualización cada ocho horas.
Acumulación de minutos que la
temperatura de la electrónica del
dispositivo es inferior al valor de "ET
Lower Stress Limit" (Límite inferior del
esfuerzo de la ET).
Ninguna.
Una copia de seguridad cada ocho
horas.
El tiempo transcurrido desde la última
vez que la temperatura de la electrónica
del dispositivo fue inferior al valor de
"ET Lower Stress Limit" (Límite inferior
del esfuerzo de la ET) (en días, horas y
minutos).
Ninguna.
Una copia de seguridad cada ocho
horas.
Revisión 1.0