Honeywell SmartLine STT850 Serie Manual De Usuario página 115

Tipo de
diagnóstico
Critical
(Diagn Crítico)
(continuación)
(continuación)
Critical (Diagn
Crítico)
Revisión 1.0 Manual de usuario de opciones HART/DE de la serie STT850
Diagnóstico
MDU/DAC compensation
fault (Fallo de
compensación
MDU/DAC)
Suspect input (Entrada
sospechosa)
Characterization prom
fault or bad checksum
(Fallo de solicitud de
caracteres o suma de
comprobación incorrecta)
Meter body failure (Fallo
del cuerpo de medida)
Información/resolución
Resolución:
Reinicie el dispositivo. Si el problema persiste,
sustituya el cuerpo de medida.
Causas posibles:
Uno de estos problemas es el causante de este
estado:

DAC SPI fault (Fallo de SPI DAC)

DAC SPI fault (Fallo de PEC DAC)

DAC Temperature above 140C (Temperatura
DAC superior a 140 °C)

DAC VLOOP (loop voltage)low (VLOOP DAC
[tensión de lazo] baja)

DAC control word write fault (Fallo de
escritura de la palabra de control DAC)
Resolución:
Compruebe que la temperatura del entorno
cumpla con las especificaciones. Realice los
pasos para aislar el cuerpo de medida del foco
de temperatura.
Si el problema persiste, sustituya el módulo
electrónico.
Causas posibles:
Los valores de entrada de temperatura estática,
de temperatura del cuerpo de medida o de
temperatura están muy alejados del rango, por lo
que el valor es sospechoso.
Resolución:
Compruebe que todas las entradas cumplan las
especificaciones. Reinicie el dispositivo. Si el
problema persiste, sustituya el cuerpo de
medida.
Causas posibles:
Los caracteres del sensor están dañados o
existe un
fallo del firmware del sensor
Resolución:
Reinicie el dispositivo. Si el problema persiste,
sustituya el cuerpo de medida.
Causas posibles:

Meter body failure (Fallo del cuerpo
de medida)

Tiempo de espera de comunicación
del sensor.

Fallo del flujo del firmware del sensor.
Resolución:
Reinicie el dispositivo. Si el problema persiste,
sustituya el cuerpo de medida.
.
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