2: Walktest (Análisis De Memoria) Avanzado; 3: Indicaciones De Activación De Walktest (Análisis De Memoria) - Honeywell Notifier NFS-320 Manual De Programación

Cambio de estado
•Encender la luz LED de problema del sistema
•Encender el relé de problema del sistema
•Desactivar el relé de alarma del sistema
3.8.2 Walktest (Análisis de memoria) avanzado
Durante el Walktest (Análisis de memoria) avanzado, cuando la persona que está realizando el
análisis activa una entrada, todos los controles por evento mapeados para esa entrada se activarán
(excepto las funciones de descarga). Cada activación de entrada se enclava; eso significa que no se
desactivará hasta que se restablezca el sistema. El Walktest (Análisis de memoria) avanzado hará
sonar todas las salidas activadas y anulará una configuración "*" (silenciosa) en el campo Walktest
(Análisis de memoria).
OBSERVACIONES: Si se utiliza un magneto, puede ser difícil hacer entrar en condición de alarma algunos
detectores (por ejemplo, los detectores láser). El Walktest (Análisis de memoria) avanzado facilita las
pruebas de magneto en estos detectores.
Ingrese al Walktest (Análisis de memoria) avanzado de la siguiente manera:
LTEST
OBSERVACIONES: El panel de control no se puede llevar al modo Walktest (Análisis de
memoria) desde una condición de alarma.
El Walktest (Análisis de memoria) avanzado indica al panel de control que lleve a cabo los mismos
pasos que para el Walktest (Análisis de memoria) básico (consulte "3.8.1, "Walktest (Análisis de
memoria) básico"" arriba) con las siguientes excepciones:
•se envían a la impresora mensajes de alarma y de problema, no mensajes de prueba. (Estos
mensajes de Walktest pueden distinguirse de otros en la impresora pues comienzan con el men-
saje de problema generado cuando se ingresa a Walktest y terminan con el problema borrado
cuando se sale de Walktest).
•se activan todos los controles por evento mapeados para la entrada de prueba, excepto las fun-
ciones de descarga.
3.8.3 Indicaciones de activación de Walktest (Análisis de memoria)
Indicaciones de activación de Walktest (Análisis de memoria)
Modo de sondeo FlashScan: una vez que se ha iniciado la prueba:
50
Ingrese LTEST en la pantalla de contraseña. Se mostrarán asteriscos donde se
ingresó LTEST. Al presionar
T R O U B L I N S Y S T E M
P R O C E S S I N G D I S A B L E D 1 0 : 0 7 a 0 4 1 5 0 8 T U E
Para...
Detener un Walktest (Análisis de memoria)
avanzado y regresar a la pantalla "Selección de
cambio de estado"
Manual de Programación NFS-320/E/C — P/N 52746SP:D1 10/26/2011
Walktest (Análisis de memoria)
(Aceptar), se mostrará la siguiente pantalla.
ENTER
A D V W A L K T E S T
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