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Tester de components
Tester de componentes
Las informaciones especificas al aparato que corresponden al
manejo y a las conexiones para las mediciones se describen en
el párrafo CT [37] bajo Mandos de Control y Readout.
El osciloscopio lleva incorporado un tester de componentes. El
componente a comprobar se conecta a los bornes corres-
pondientes. En modo de comprobador de componentes, se
desconecta el preamplificador Y y el generador de barrido. Sin
embargo, pueden permanecer las tensiones de señal en los tres
bornes BNC de la placa frontal, si se comprueban componentes
sueltos de circuitería. Sólo en ese caso, no hace falta desconectar
sus cables (véase más adelante en «tests directamente en el
circuito»). Aparte de los controles INTENS./FOCUS, FOCUS y
X-POS. los demás ajustes del osciloscopio no tienen influencia
alguna en funcionamiento de test. Para la conexión entre el
componente a verificar y el osciloscopio se precisan dos cables
sencillos con clavijas banana de 4mm.
Como se ha descrito en el párrafo de seguridad, todas las
conexiones de medida (en estado perfecto del aparato) están
conectadas al conductor de protección de red (masa), y por esto
también los bornes del comprobador. Para la comprobación de
componentes sueltos (fuera de aparatos o de circuitos) esto no
tiene ninguna relevancia, ya que estos componentes no pueden
estar conectados al conductor de tierra.
Si se desean verificar componentes que permanecen incorporados
en un circuito o en aparatos de test, se debe de desconectar
necesariamente el flujo de corriente y tensión. Si el circuito queda
conectado con la red debe de desconectarse incluso el cable de
red. Así se evita una conexión entre el osciloscopio y el
componente a verificar, que podría producirse a través del
conductor de tierra. La comprobación llevaría a falsos resultados.
¡Sólo se deben comprobar los condensadores en estado
descargado!
El principio de test es muy sencillo. Un generador en el osciloscopio
proporciona una tensión senoidal con una frecuencia de 50 Hz
(±10%). Esta alimenta un circuito en serie compuesto por el
componente a comprobar y una resistencia incorporada. La
tensión senoidal se utiliza para la deflexión horizontal y la caída de
tensión en la resistencia se utiliza para la deflexión vertical.
Si el objeto de medida tiene un valor real (p.ej. una resistencia),
las dos tensiones tienen la misma fase. En la pantalla aparece una
línea más o menos inclinada. Si el componente a comprobar
presenta un cortocircuito, la raya será vertical. En el caso de
interrupción o cuando no hay objeto de medida, aparece una línea
horizontal. La inclinación de la línea es un indicador del valor de la
resistencia. Con esto se pueden comprobar resistencias entre
20Ω y 4,7kΩ.
Los condensadores y las inductancias (bobinas, trans-
formadores) provocan una diferencia de fase entre la corriente y
la tensión, así también entre las tensiones de deflexión. De esto
resultan imágenes elípticas. La inclinación y abertura de la elipse
son significativas para la impedancia con frecuencia de red. Los
condensadores se presentan en un margen de 0,1µF-1000µF.
Una elipse con el eje principal horizontal significa alta impe-
dancia (capacidad pequeña o inductividad grande).
Una elipse con el eje principal vertical significa impedancia
pequeña (capacidad grande o inductividad pequeña).
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Una elipse inclinada significa una resistencia de pérdida
relativamente grande en serie con la reactancia.
En semiconductores, los dobles en la curva característica se
reconocen al paso de la fase conductora a la no conductora. En
la medida en que la tensión lo permite, se presenta la característica
directa e inversa (p.ej. de un diodo zener bajo 10V). Siempre se
trata de una comprobación en dos polos. Por eso, p.ej. no es
posible comprobar la amplificación de un transistor, pero sí
comprobar las diferentes uniones B-C, B-E, C-E. Dado que la
tensión en el objeto de medida es muy reducida, se pueden
comprobar las uniones de casi todos los semiconductores sin
dañarlos.
Es imposible determinar la tensión de bloqueo o de ruptura de
semiconductores para tensión > 10V. Esto no es una desventaja,
ya que normalmente, en el caso de fallos en el circuito, éstos
producen diferencias notables que dan claras indicaciones sobre
el componente defectuoso.
Se obtienen resultados con suficiente precisión, de la comparación
con componentes correctos del mismo tipo y valor. Esto es
especialmente válido para semiconductores. Por ejemplo permite
reconocer rápidamente el cátodo de un diodo normal o zener cuya
impresión es ilegible, diferenciar un transistor p-n-p del tipo
complementario n-p-n o averiguar las conexiones B-C-E de un
tipo de transistor desconocido. Obsérvese que con la inversión
de los polos de conexión de un semiconductor (inversión del
borne COMP. TESTER con el borne de masa) se provoca un giro
de la imagen de test de 180° sobre el centro de la retícula.
Aún más importante es el resultado bueno-malo de componentes
con interrupción o cortocircuito. Este caso es el más común en el
servicio técnico. Se recomienda encarecidamente actuar con la
precaución habitual para el caso de electricidad estática o de
fricción en relación con elementos sueltos MOS. Pueden aparecer
tensiones de zumbido en la pantalla, si el contacto base o gate de
Reservado el derecho de modificación
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