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Ajuste del sistema de medición
Con el parámetro AJUSTE DEL SISTEMA DE MEDICION se determina
la resolución y el tipo de sistema de medición (sistema de medición
longitudinal o angular), la dirección de contaje y el tipo de marcas de
referencia. Véase Fig. II.10.
Seleccionar AJUSTE DEL SISTEMA DE MEDICION. Aparece una barra
con seis sistemas de medición disponibles.
Seleccionar el sistema de medición a modificar y confirmar con ENT.
El POSITIP 880 preasigna la entrada en el campo SEÑAL DE
SISTEMA DE MEDICION.
El cursor se encuentra en el campo PERIODO DE SEÑAL.
Seleccionar el tipo de sistema de medición con la softkey TIPO DE
SISTEMA DE MEDICION. El POSITIP 880 preasigna 20 µm en sistemas
de medición longitudinales para el período de señal.
En sistemas de medición lineales se utilizan las softkeys MAS
GRUESOo MAS FINO, si se desea expresar los períodos de señal del
sistema de medición lineal en µm (2, 4, 10, 20, 40, 100, 200, 10 240,
12 800). También se pueden introducir los períodos de señal
deseados simplemente con las teclas numéricas. En sistemas de
medición angulares se introduce el número de impulsos del sistema
de medición. El POSITIP 880 predetermina como tipo de sistema
de medición un sistema de medicion lineal. En el capítulo II-3
encontrará más información sobre los valores de introducción.
En el campo RESOLUCION se selecciona el valor de resolución con
ayuda de las softkeys MAS GRUESO o MAS FINO. El POSITIP 880
predetermina en sistemas de medición lineales el valor 1 µm como
resolución.
En el campo MARCAS DE REFERENCIA pulse la softkey NINGUNA, si
su sistema de medición no posee marcas de referencia, la softkey
UNA si posee una única marca de referencia y la softkey CODIFICADA
para marcas de referencia codificadas.
En las marcas de referencia codificadas, las distancias 500, 1000,
2000 o 5000 se pueden seleccionar con la softkey CODIFICADA. El
POSITIP 880 predetermina el ajuste CODIFICADO con la distancia
1000. En el capítulo II-3 encontrará más información sobre los
valores de introducción.
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Fig. II.10 Máscara de datos DEFINIR SISTEMA DE
MEDIDA
II: Información técnica
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