Capacidad
Frecuencia de prueba: 120 Hz
Escala
20 mF
2000 µF
1999.9 µF
200 µF
199.99 µF
20 µF
19.999 µF
2000 nF
1999,9 nF
200 nF
199,99 nF
20 nF
19,999 nF
Frecuencia de prueba: 1 KHz
Escala
2000 µF
1000.0 µF
200 µF
199.99 µF
20 µF
19.999 µF
2000 nF
1999,9 nF
200 nF
199,99 nF
20 nF
19,999 nF
2000 pF
1999,9 pF
20
Lectura
máxima
Capacidad
±(5,0 % + 5 díg)
10 mF
DF<0,1
±(1,0 % + 5 díg)
DF<0,1
±(0,7 % + 3 díg)
DF<0,5
±(0,7 % + 3 díg)
DF<0,5
±(0,7 % + 3 díg)
DF<0,5
±(0,7 % + 5 díg)
DF<0,5
±(1,0 % + 5 díg)
DF<0,1
Lectura
máxima
Capacidad
±(5,0 % + 5 díg)
DF<0,1
±(1,0 % + 5 díg)
DF<0,1
±(0,7 % + 3 díg)
DF<0,5
±(0,7 % + 3 díg)
DF<0,5
±(0,7 % + 3 díg)
DF<0,5
±(0,7 % + 5 díg)
DF<0,5
±(1,0 % + 5 díg)
DF<0,1
Precisión
DF
±(10% + 100/Cx +
5 díg) DF<0,1
±(2% + 100/Cx +
5 díg) DF<0,1
±(0,7% + 100/Cx
+ 5 díg) DF<0,5
±(0,7% + 100/Cx
+ 5 díg) DF<0,5
±(0,7% + 100/Cx
+ 5 díg) DF<0,5
±(0,7% + 100/Cx
+ 5 díg) DF<0,5
±(2% + 100/Cx +
5 díg) DF<0,1
Precisión
DF
±(10% + 100/Cx +
5 díg) DF<0,1
±(2,0% + 100/Cx
+ 5 díg) DF<0,1
±(0,7% + 100/Cx
+ 5 díg) DF<0,5
±(0,7% + 100/Cx
+ 5 díg) DF<0,5
±(0,7% + 100/Cx
+ 5 díg) DF<0,5
±(0,7% + 100/Cx
+ 5 díg) DF<0,5
±(2,0% + 100/Cx
+ 5 díg) DF<0,1
Notas
específicas
Post calibración
en cortocircuito
Post calibración
en cortocircuito
Post calibración
en circuito
abierto
Post calibración
en circuito
abierto
Notas
específicas
Post calibración
en cortocircuito
Post calibración
en cortocircuito
Post calibración
en circuito
abierto
Post calibración
en circuito
abierto
Noviembre 2016