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Serie APU 28
Editar una configuración
5.1.2
Calibrar racks y gestionar configuraciones de racks
Abrir la página Rack configura-
tion
} Confirme la consulta para eliminar la configuración con OK.
} Pulse la flecha
en el título de la página para volver a salir de ella.
Puede editar secciones individuales de una configuración y utilizarlas como base para
una nueva configuración.
} Cargue la configuración deseada.
} Pulse sobre una sección creada y abra la visualización de parámetros.
Fig. 26
Sección con parámetros guardados
} Pulse el icono
y edite los parámetros de proceso de la sección. Puede editar todos
los parámetros excepto el tipo de muestra y la posición de inicio de la sección.
} Para eliminar la sección, pulse sobre el icono
ción con OK.
Si ha eliminado una sección, puede crear una nueva sección en las posiciones de mues-
tra que han quedado libres.
Vea también
2 Preparación de muestras de AOX [} 40]
2 Preparación de muestras de SPE-AOX [} 42]
2 Detener la preparación de muestras y editar una sección durante el funcionamiento
[} 45]
Puede trabajar con varios racks en el equipo. Cada rack debe calibrarse antes de su pri-
mer uso, es decir, los movimientos del brazo del automuestreador deben ajustarse a la
geometría del rack. Los datos de offset determinados durante la calibración se guardan
como configuración de rack en el módulo de control. Puede guardar las configuraciones
de hasta 6 racks diferentes en el módulo de control y cargarlas cuando sea necesario. Si
trabaja con varios racks, márquelos para no confundirlos. Escriba, por ejemplo, el núme-
ro del rack en el borde con un rotulador resistente al agua. Debe seleccionar un rack para
la preparación de muestras.
} Seleccione la opción de menú
} En la página Settings, seleccione la opción Rack configuration.
} En la página Rack configuration, el rack cargado aparece sobre fondo rojo:
y confirme la consulta de elimina-
| Settings.
Manejo
35
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