Efectos De Los Diferentes Estados De Entradas En El Tiempo De Exporación Lógica - Rockwell Automation Allen-Bradley 1785-LT Manual Del Usuario

Efectos de los diferentes estados de entradas en el tiempo de
exporación lógica
Usted puede escribir su lógica de manera que ejecute diferentes
renglones en diferentes tiempos, en base a las condiciones de las
entradas. Las diferentes cantidades de lógica ejecutada en los escanes
lógicos causan diferencias en los tiempos de escán del programa. Por
ejemplo, las diferencias simples en la ejecución de renglones en los
siguientes ejemplos hacen que varíen los tiempos de escán lógico.
I:000
02
B3:0
00
20
LBL
Si I:000/02
está:
Activado
Desactivado
Si usa subrutinas, los tiempos de escán del programa pueden variar por
el tiempo de escán de los archivos lógicos completos.
Escán de E/S
El ciclo de escán de E/S remota es el tiempo que le toma al procesador
(configurado como escáner) para comunicarse una vez con todos las
entradas en su lista de escán de rack. El escán de E/S remota es
independiente de y asíncrona al escán del programa.
El procesador escáner mantiene una lista de todos los dispositivos
conectados a cada vínculo de E/S remotas. Un ejemplo sería como este:
PLC 5/25
DH+
E/S rem
Rack 1
Rack 2
En este ejemplo, el canal de E/S remotas continuamente escanea los tres racks en su
lista de escán, y coloca los datos en el búfer de E/S remotas en el procesador. El
procesador actualiza su propio búfer y la tabla de imagen de E/S. Durante el
Rack 3
mantenimiento interno, los dos búfers son actualizados intercambiando entre ellos los
datos de entrada y salida.
Capítulo 9
Cálculo de tiempos para el programa
renglón 1
renglón 2
renglón 3
renglón 4
Los renglones 2 y 3
se:
Saltan
Ejecutan
Estado de E/S
Direc. Tamaño
Rango de E/S
rack rack
1 Total IO 010/00 a 017/17
2 1/2 IO 020/00 a 023/17
IO 030/00 a 037/17
3 Total
20
JMP
MVM
MVM
O:013
JMP
02
9-3