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User Manual DEFECTOTEST DS2000
Parámetros
Si desea realizar una evaluación según la norma EN1971 para defectos clase F1,
ajuste los siguientes parámetros:
Parameter
Eval.Opción [Analyse; Con]
Eval.Longitud.F1 [Analyse; Sta]
Min.Defect.Counts.F1 [Eval; Deb]
Eval. Longitud.F2 [Analyse; Sta]
Min.Defect.Counts.F2 [Eval; Deb]
Eval. Longitud.F3 [Analyse; Sta]
Min.Defect.Counts.F3 [Eval; Deb]
4.3.4 Grabando las distintas categorías de defectos
En la nueva evaluación, pueden tenerse en cuenta diferentes tipos de información
de defectos:
• Número de defectos
• Longitud de defectos
• Densidad de defectos
Hay procedimientos especiales de evaluación para los tres casos. Los
procedimientos de evaluación se describen en detalle a continuación.
4.3.4.1 Determinando el número de defectos (contador de defectos)
Nota: Los procedimientos "Min.Defect.Distance algorithm" y "Unification algorithm"
descritos a continuación se aplican consecutivamente en una evaluación de la
trayectoria grabada. Para permitir una mejor vista, el efecto de cada proceso de
manipulación se muestra basado en un formato fig. 36 (ver
Combinación de defectos vecinos
(Min.Defect.Distance algorithm)
En particular, si un número largo de defectos se suceden muy seguidos, es mejor
combinar estos para formar unos pocos defectos. Este se consigue definiendo el
así llamado minimum flaw spacing. Dos defectos se consideran como separados
solo si su espacio excede cierta distancia.
6.430/2.815
Setting value; explanation
EN1971
Longitud deseada de la ventana de
evaluación para defectos clase F1
Número mínimo deseado de
defectos dados en la ventana de
evaluación para la clase 1
Longitud en mm, que corresponde a
una unidad del sistema
1
Longitud en mm, que corresponde a
una unidad del sistema
1
12.01.05
Apartado
4.3.2).
Manejo
4-91
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