Foerster DEFECTOTEST DS2000 Manual De Usuario página 130

Manejo
Ejemplo: Si el espacio mínimo introducido corresponde a 3 ciclos del reloj,
obtenemos la siguiente configuración en vez de la evaluación original de la
trayectoria como se muestra en la fig. 36 (ver
F1
Los huecos se rellenan con defectos de la clase vecina más alta (en este caso: F2
en el hueco a mano izquierda o F1 en el derecho).
El espacio mínimo de defectos se determina con el parámetro
Min.Defect.Distance [Eval; Deb].
Unificación de tipo de defecto (Unificación algoritmo)
Antes de determinar el número de defectos por clase, se realiza una "unificación de
tipo de defectos". Para ello, las plantillas vecinas del defecto en una trayectoria se
combinan para formar un defecto. La clase de defecto corresponde a la plantilla
mayor. Entonces obtenemos la siguiente configuración para el ejemplo mostrado en
la fig. 36 (ver
Contador de defectos
Siguiendo la evaluación de algorimos descrita arriba, se cuentan los defectos de las
clases individuales. Se distinguen dos métodos:
1. Normal (Count.Mode [Eval; Con] = con clases inferiores)
Un defecto de cierta clase también se cuenta como un defecto de clases inferiores.
Ejemplo: Un defecto F2 se cuenta como defecto F2 y como defecto F1. En la
evaluación antes, se obtienen tres defectos F1 y un defecto F2.
2. Restar (Count.Mode [Eval; Con] = clase individual)
Un defecto de cierta clase solo se cuenta como un defecto de esta clase y no de
una inferior. Ejemplo: Un defecto F2 solo se cuenta como defecto F2 y no F1. En la
evaluación anterior, se obtienen dos defectos F1 y uno F2.
4-92
F1 F1 F2 F2
Apartado 4.3.2):
F1
User Manual DEFECTOTEST DS2000
Apartado
F2 F2 F1 F1
F2
12.01.05
4.3.2).
F1 F1
F1
6.430/2.815